中古 JEOL JWS 7505 #9256120 を販売中

JEOL JWS 7505
製造業者
JEOL
モデル
JWS 7505
ID: 9256120
SEM Defect review system.
JEOL JWS 7505スキャン電子顕微鏡(SEM)は、幅広い研究用途向けに設計された高解像度イメージングツールです。JEOL JWS-7505 SEMは、様々なイメージングモードとコントラスト技術を用いて、従来の光学顕微鏡に比べて非常に高い精度と解像度でサンプルの構造と組成を可視化することができます。これにより、学術研究、産業品質管理、生産プロセスに最適です。JWS 7505 SEMは、高度な電界放出源と高度な光学部品を備えた高分解能電子カラムの周りに構築されています。これにより、優れた信号対ノイズ比とサンプルのクリーンでシャープな画像が保証されます。カラム内の電子光学系は、生体試料のイメージングなどの空間分解能とコントラストを最適化するために調整することができます。JWS-7505はまた、高角環状暗視野イメージング、分析グレードのエネルギー分散X線分光法、および逆散乱電子イメージングなど、幅広いイメージングモードを提供しています。JEOL JWS 7505 SEMは広範な作業距離範囲を提供し、さまざまなサイズのサンプルを調整することなく画像化することができます。このコラムは、高出力顕微鏡アプリケーションでも安定したイメージングを保証する堅牢な振動減衰ハウジングに収納されています。JEOL JWS-7505は、ローカルでもリモートでも簡単に制御できるため、優れた操作効率と優れた人間工学を提供します。この装置には、さまざまな種類のサンプルに適したさまざまなステージ機構が装備されています。全体的に、JWS 7505スキャン電子顕微鏡は、優れた画質と解像度を提供し、研究科学者や産業用アプリケーションのための優れたイメージングツールです。その高い安定性と精度は、さまざまなタスクに理想的ですが、使いやすさと多数のイメージングモードにより、ユーザーは楽器を最大限に活用できます。
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