中古 JEOL JWS 7505 #9131751 を販売中

JEOL JWS 7505は、電子の集束ビームを用いてサンプルの表面または地下構造の高解像度画像を作成する走査型電子顕微鏡（SEM）です。7505は高分解能の電界放出銃（FEG）を搭載しており、前加速電圧を低減し、最適化されたイメージングのための二次放出を強化します。さらに、7505を使用して、複数のSEM画像スライスを取得することで3D再構成を行うことができます。SEMには最先端のソフトウェアパッケージが含まれており、作業距離の調整やフォーカスコンデンサーレンズなどの顕微鏡のすべての機能を制御し、自動機能をプログラムすることができます。7505はまた、高速な画像取得や自動測定などの画像取得と解析をサポートし、加速電圧や動作電流などのパラメータを迅速に決定してより正確な画像処理を実現します。7505は、3つの線形軸（X、 Y、 Z）と2つの回転軸（傾きと回転）からなる5軸電動ステージを備えています。回転軸はマルチパラメータイメージング（MPI）画像を生成するために使用でき、傾斜軸は入射角度を正確に制御することができます。また、安定した温度を必要とする試料に対してアクティブな温度制御システムを提供します。7505はまた、サンプルの高コントラスト画像を提供するイメージング検出器の範囲を備えています。これらの検出器は、後方散乱電子、二次電子、反射電子およびそれらの合金、および後方散乱信号を検出します。さらに、検出器はサンプルから化学情報と物理情報の両方を拾い上げて、より鮮明な画像を提供することができます。7505には、二次電子と後方散乱電子の両方を同時に検出できるオプションの組み合わせ検出器も含まれています。最後に、7505は、高角度イメージング用の60°傾斜や、変圧環境で歪むことなく画像を取得するための可変圧力レンズなど、さまざまな機能を提供します。7505はまた、広い視野を提供し、より大きなサンプル分析を可能にし、そのエネルギー分散分光法（EDS）機能は、イメージングに加えて元素分析を可能にします。この機能の組み合わせにより、JEOL JWS-7505はイメージングと分析のための強力で汎用性の高いツールとなります。