中古 JEOL JWS 7505 #293749611 を販売中

JEOL JWS 7505は、形態学的およびナノ構造学的研究に高度なイメージングおよび分析機能を提供する走査型電子顕微鏡（SEM）です。マルチモードデータ収集システムを備えており、単一の実験で高い空間分解能、品質、精度で結果を提供します。その高効率イメージング光学系は、低エネルギーイメージングと高エネルギーイメージングの両方で優れた解像度と低ノイズ検出を提供します。この機器はまた、分析機能の広い範囲を提供しています。ELNES （Energy-Loss Near Edge X-ray Absorption Spectroscopy）システムは、高解像度の深度プロファイル解析を提供します。さらに、FESEM （Field-Emission Scanning Electron Microscope）技術は高解像度の画像を提供し、インコラム側の検出技術と可変圧力イメージングモードはさらに高品質の画像処理機能を提供します。JEOL JWS 7515は、マルチチャネル検出器を使用して最先端の分析性能を研究者に提供するように設計されています。この取り外し可能なプラットフォームは、頻繁に交換可能な異なる分析モード間の迅速な移行を可能にし、高レベルのパフォーマンスと信頼性を確保します。この装置は、4軸モータ駆動ガントリーを備えており、電動EDSおよびELNES検出器を使用して研究者に高度な精度を提供するように設計されています。JEOL JWS 7515はメンテナンスを容易にするように設計されており、導入時間の短縮、メンテナンスコストの削減、アップグレードのアクセスの容易化を実現しています。その直感的なソフトウェアは、ユーザーフレンドリーな操作と迅速な分析を提供し、迅速なテンプレートベースのサンプルローディングとサンプルからサンプルの置換までの高速サンプルの自動化された手順を提供します。また、画像解析とグラフィカルデータ解析を自動化した、データ解析と画像操作のための高度なソフトウェアソリューションも提供しています。JEOL JWS 7515は、高度なイメージングおよび分析機能を備え、形態学的およびナノ構造学研究のための強力なツールです。高解像度イメージング、高精度分析装置、直感的なソフトウェアの組み合わせは、最良の結果を求める研究者に最適です。