中古 JEOL JWS 7505 #293594310 を販売中

JEOL JWS 7505 Scanning Electron Microscope （SEM）は、他のSEMと比較して3。2ナノメートルの分解能と高い性能を備えています。それは拡大された部屋、ビームスプリッター構造および内部コラムのエネルギーフィルターが付いている高度の分野の放出銃（FEG）を特色にします。これにより、ユーザーはより高い倍率とより高い被写界深度を取得することができ、結果として画像の詳細度が高くなります。また、JEOL JWS-7505は、走査トンネル顕微鏡（STM）をはじめ、現場での試験片の操作・解析など、幅広い観察モードと機能を提供しています。この検出器システムは、チャンバー環境を最適化しながら、より高速な画像解像度、画像忠実度と精度の向上、3Dイメージングの改善、およびその場でのサンプル操作を提供するように構成されています。JWS 7505はまた、高速パターン検索とステッチ機能を備えており、高速な画像取得と高解像度録画を可能にします。JWS-7505のイメージングモードには、二次電子イメージング、後方散乱電子イメージング、陰極発光イメージングなどがあります。また、in-situ解析用シンチレータ検出器、エネルギー分散分光計、電子逆散回折（EBSD）検出器、組成解析用の角度分解エネルギーフィルタなど、イメージング用のさまざまな検出器を備えています。また、JEOL JWS 7505には、自動観察とサンプル回転による試料ステージがあります。また、高速伝送を利用したデジタルイメージフィードを搭載し、リアルタイムの観察・解析が可能です。JEOL JWS-7505はクリーンルーム環境での動作に最適に設計されており、ほこりなどの汚染物質がない環境でも使用できます。JWS 7505は、電子顕微鏡をスキャンするための信頼性の高い使いやすいプラットフォームをユーザーに提供します。その高解像度、高速イメージング、直感的なユーザーインターフェースは、さまざまな研究アプリケーションに最適なツールです。その低コストのエントリーオプションは、その優れた性能と相まって、電子顕微鏡のスキャンに最適です。