中古 JEOL JWS 7500E #9223533 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JWS 7500E
ID: 9223533
Scanning Electron Microscope (SEM) Wafer stuck inside Optics need to be replaced.
JEOL JWS 7500Eは、研究者が原子およびナノスコープでサンプルを観察し、分析するのに役立つ、洗練された走査型電子顕微鏡(SEM)です。この顕微鏡は、スキャン電子ビームを使用してサンプルを照らし、拡大します。研究者は、デジタルイメージングと相互作用技術を組み合わせて、顕微鏡で詳細な画像と3D表面レンダリングを得ることができます。JWS 7500Eは、高出力の40kV場エミッション電子銃(FEG)を使用して電子ビームを生成し、電磁レンズを介して加速され、平面に集中します。この加速された電子ビームは、サンプル全体でスキャンされ、二次電子画像(SEI)と呼ばれるスキャンモードを使用して画像を形成します。JEOL JWS 7500Eには、反射電子または二次電子を検出する機能もあり、より深い情報で高解像度の画像を生成することができます。この顕微鏡はまた、逆散乱電子(BSE)イメージングを利用することができ、研究者はより高いコントラストを持つサンプルを観察することができます。JWS 7500Eは、画像作成に加えて、サンプルの元素組成を検出するためのエネルギー分散分光法(EDS)アナライザも備えています。これにより、研究者はサンプル組成に関する貴重な情報を得ることができ、サンプル中に存在する元素や化合物をより正確に識別することができます。JEOL JWS 7500Eは低温調製システムとも互換性があり、-200°Cの低温でサンプルを閲覧および分析することができます。これにより、研究者はサンプルを真の状態で観察し、環境の変化に応答するサンプルによる変化を排除することができます。全体として、JWS 7500Eは非常に強力な走査型電子顕微鏡であり、ナノスコープのイメージングと元素解析の両方に適しています。その広範な機能と低温システムとの互換性により、研究者は原子レベルでサンプルの詳細かつ正確な画像を得ることができます。
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