中古 JEOL JWS 7500E #293761986 を販売中

JEOL JWS 7500E
製造業者
JEOL
モデル
JWS 7500E
ID: 293761986
ウェーハサイズ: 8"
Wafer inspection system, 8".
JEOL JWS 7500Eは、研究および業界向けに特別に設計された高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。高倍率(最大18,000x)の高解像度イメージングや低kVイメージング機能など、高度なイメージング性能を提供します。JWS 7500Eには、ショットキーエミッタ、オフアクシストリプレット、コールドカソードフィールドエミッタ、ブロードビームコンデンサなど、さまざまな電子光学系が搭載されています。有機材料、金属、セラミックスなど、多種多様な試料において、高解像度のイメージングと優れたコントラストを実現します。JEOL JWS 7500Eは、強力なイメージングおよび分析機能に加えて、自動サンプルステージも備えています。「Smart Stage」技術により、試験片ステージの自動調整と補正が可能になり、正確で一貫したイメージングが可能になります。また、現場解析、光学計測、表面イメージングなど、さまざまな自動化機能を提供しています。JWS 7500Eでは、デジタルイメージング、エネルギー分散X線分光法(EDS)、波長分散X線分光法(WDS)、 X線蛍光法(XRF)、カソードルミネッセンス(CL)解析などの高度な分析機能も提供しています。EDSとCLシステムは要素解析と組成解析を提供し、WDSとXRFを使用して追加の表面解析を行うことができます。これらのすべての機能により、JEOLは材料分析に最適な機器となります。JEOL JWS 7500Eには、さまざまな制御機能とユーザー指向機能が搭載されています。リアルタイムのグラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、オペレータにパラメータ、倍率、および試験片ステージの角度を調整する機能を提供します。この直感的なインターフェイスにより、JEOLの操作が簡単になり、高度な制御が可能になります。JWS 7500Eは、研究機関や産業団体のニーズに応えるために設計された強力な顕微鏡です。その高度なイメージングおよび分析機能により、標本の詳細な観察と特性評価が可能になり、材料分析アプリケーションに最適です。
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