中古 JEOL JWS 7500 #9130302 を販売中

JEOL JWS 7500は、高精度の走査型電子顕微鏡（またはSEM）で、個々の原子のレベルまでの微小な標本の非常に詳細な画像の表示と特性評価を可能にします。この装置は、低エネルギーの電子ビームを使用して試験片の表面を迅速にスキャンし、複雑な3次元の特徴を極めて詳細に明らかにします。その結果、光顕微鏡では見られない独特の特徴を明らかにする、非常に詳細な立体地図が得られました。JWS 7500は、さまざまな分野の研究者のニーズに応えるために、幅広いイメージングおよび検出オプションを備えています。これには高分解能イメージングや元素解析機能があり、サンプルの化学組成を決定することができます。また、ナノスケールのイメージングと解析機能もあり、研究者は個々の原子レベルで高精度な測定を行うことができます。この装置は、0。35nmの解像度で高精度な画像を生成することができる、大型の高精度Cs補正スキャン電子カラムをベースとしています。このコラムは、中程度から非常に大きいサイズまでのサンプルのイメージングと分析に最適化されており、オープンエンドのスパッタコーティングシステム（SCS）を含む高度なサンプル操作ツールがあり、壊れやすいサンプルをコーティングして電子ビーム損傷から保護するのに役立ちます。JEOL JWS 7500は、カーボンやグラフェンシートなどの高アスペクト比の材料のイメージングと分析、超薄型シリコンなどの脆性物質のスキャン音響顕微鏡（SAM）実験も可能です。さらに、イメージング条件を最適化する検出角度調整ユニット、高度な傾き補正機能、たわみ制御機、その他多くの機能を備えています。JWS 7500は、個々の原子レベルまでのサンプルのイメージングと分析に高性能SEMを必要とする研究者や科学者に最適です。このツールは、サンプル表面の非常に詳細な3次元画像を生成することができ、研究者はナノスケールのレベルでもサンプルを正確に特徴付けることができます。さらに、さまざまな分野のユーザーのニーズを満たすために、さまざまな高度なイメージングおよび分析オプションを提供しているため、研究および産業用の両方で使用するための貴重で汎用性の高いツールとなっています。