中古 JEOL JWS 2000 #293621661 を販売中

JEOL JWS 2000は、高度なイメージングと分析のために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。フィールドエミッションSEMのパワーと最新技術を組み合わせ、ナノスケールの高解像度画像を提供するイメージングツールです。これにより、JWS 2000は、材料の表面からサブミクロンレベルまでの特性を評価するための理想的な機器となります。JEOL JWS 2000は、精密な画像処理のためのフィールド放射源を備えています。このソースは、低加速電圧と低ノイズと相まって、高レベルの解像度を提供します。最新の低ノイズ検出器で高解像度をさらに高め、最小の機能でも正確に検出できます。JWS 2000は、大型ワーキングチャンバーと広い電圧範囲を備えており、解像度を犠牲にすることなく、大きなサンプルをプローブすることができます。JEOL JWS 2000は、1つのプラットフォームでイメージングと分析の両方のアプリケーションを実行します。エネルギー分散X線 （EDX）分光法、逆散電子（BSE）イメージング、カソドルミネッセンス（CL）など、さまざまな高度な分析ツールを備えています。EDXは元素と化学組成の情報を提供し、BSE検出器とCLはサンプルの表面とサブサーフェスの両方から物質特性のイメージングを可能にします。JWS 2000では、コントラスト、アスペクト比、線幅など、さまざまなイメージングメトリックも提供しています。JEOL JWS 2000は、使いやすさを向上させるための自動化機能の範囲を提供しています。精密なビーム配置のための自動アライメントシステム、複数のサンプルを素早く処理するための自動サンプルチェンジャー、正確な画像取得と分析のための自動スティグと傾き制御を備えています。さらに、JWS 2000はクライアント/サーバーとWebインターフェイスの両方を介してリモートアクセスをサポートしています。これにより、ユーザーは世界中のどこからでもSEMを操作できます。JEOL JWS 2000はナノスケールの材料および構造の高分解能のイメージ投射そして分析を提供するように設計されている高度の走査の電子顕微鏡です。フィールド放出源、高度な検出器、広い電圧範囲により、精密なイメージングが可能ですが、分析ツール、自動化された機能、リモートアクセスの範囲は、使いやすさと最大限の制御を提供します。JWS 2000は、材料や表面のナノスケール特性評価に最適な装置です。