中古 JEOL JSM T330A #116691 を販売中
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ID: 116691
Scanning Electron Microscope with Tracor Northern Z-Max 30 Series TN5502N EDS System
Resolution: 5nm (SEI, 30kV, WD=10nm)
Magnification:
LGS 15x (WD=48mm) -200,000x
SGZ 35x (WD=38mm)-200,000x
Accelerating voltage: 0.5-30Kv
Cooling water: 2L per minute
Power requirement: 100VAC 1Phase 50/60Hz, 2kVA
Constant Current: 20A, Starting Current: 60A
Tracor Northern Z-Max 30 Series TN-5502N EDS system specifications:
Z-Max 30 Series Model: 98-629I3/54S
Controller Model: TN-5502N Assy.:700P117748
Laboratory Resolution: 148.6
Laboratory Peak/BKGD.: 889
Bias Voltage: -400V
Heater Voltage: 10.0
Controller Power Requirement: 115VAC 12A or 230VAC 7A.
JEOL JSM T330Aは、試料表面を電子ビームで解析する走査型電子顕微鏡(SEM)です。その特徴は、高解像度のイメージングと様々なサンプルのための3次元イメージングを可能にします。JSM T330Aは15kV電子源で動作し、最大解像度は0。3ナノメートルで、小さなサンプルや領域の最高解像度のイメージングを可能にします。さらに、電動ステージセンサーとフォトマルチプライヤーチューブを使用してサンプルのデジタル画像を取得し、リアルタイム測定と正確なサンプル分析を可能にします。電動ステージセンサーは、特定の操作でプログラムすることもでき、スキャンとサンプルアライメントの自動操作を可能にします。JEOL JSM T330Aは、背面散乱電子検出器(BSD)を内蔵しているため、超高精細画像を作成することができます。このデバイスは、さまざまな方法でサンプルを分析するために、幅広い検出器を収集し、ユーザーが利用できるようにすることができます。JSM T330Aはまた、有機試料と無機試料の両方を容易に分析するためのフィルターとプレートの範囲を提供しています。JEOL JSM T330Aには多要素EELS検出器が装備されています。この機能により、原子スケールでのイメージングを強化し、サンプル中に存在する元素を識別することができます。この特徴は、エネルギー分散分光法(EDS)とX線分光法の研究において非常に有用である。JSM T330Aは、様々な向きと回転機能を備えており、分析中のサンプル操作を可能にします。この機能は、特に複雑な構造の3次元サンプルやオブジェクトのイメージングに非常に役立ちます。最後に、JEOL JSM T330Aは、サンプル汚染を防止するガス掃除機とイオン化システムを内蔵しています。このシステムは、環境スキャンや電子顕微鏡に非常に役立ち、リアルタイムでサンプルを分析することができます。全体として、JSM T330Aは非常に有用な走査型電子顕微鏡であり、高解像度のイメージングと完全なサンプル分析を提供します。スキャンとサンプルアライメントの自動操作、有機サンプルと無機サンプルのリアルタイム解析が可能です。さらに、ガス掃除機とイオン化システムを内蔵することで、サンプルを汚染されないようにすることができ、複雑なサンプルをリアルタイムで分析することができます。
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