中古 JEOL JSM T300 #9174752 を販売中

JEOL JSM T300は、有機材料と無機材料の両方をさまざまな研究用途でイメージングするために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。この高度なSEM装置は、最大5nmの横解像度の高解像度イメージング機能を提供します。JSM T300には、サンプルの自動位置決めシステムと、正確な手動または自動サンプルの読み込みを可能にするモーター付きサンプルチャンバーがあります。この単位の総拡大範囲は10xから300,000xからです。JEOL JSM T300は、高解像度で画像を生成する2つの電子ビームを使用しています。一次電子ビームは、必要な画像情報を収集するために使用されます。二次電子ビームは、サンプルの分光分析に使用されます。二次電子ビームは、試料表面の元素を検出するために使用することができ、元素組成分析に使用することができます。また、統合されたEnergy Dispersive X-ray （EDX）分光計を備えており、サンプリングレスの定性的かつ定量的な化学組成分析を提供します。このツールには、湿式サンプルのイメージングを可能にする環境スキャン電子顕微鏡（ESEM）も含まれています。ESEMは、真空環境を必要とせずに優れた画像を生成します。このSEMアセットは、大気圧から4 Torrまでの環境条件で動作するように設計されています。JSM T300は、多様な産業の研究ニーズに応えるために設計された汎用性と信頼性の高いモデルです。このSEM装置は堅牢で信頼性が高く、最高解像度で優れたイメージングを提供します。3Dイメージング、冶金、材料科学、地形学研究など、さまざまな用途に使用できます。自動サンプル位置決めシステムと電動サンプルチャンバーは、さまざまなタスクを実行する際の精度と再現性を提供します。このユニットは、高解像度SEMイメージングと分光機能を必要とする研究者にとって、信頼性の高い汎用性の高い機械での優れた選択肢です。