中古 JEOL JSM IT200A #9409368 を販売中
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ID: 9409368
ヴィンテージ: 2019
Scanning Electron Microscope (SEM)
With EDS
BED
SNS
2019 vintage.
JEOL JSM IT200Aは、電界放射型電子顕微鏡(SEM)です。電界放出電子源、広域検出器、高電圧回路を搭載し、最大3ナノメートルの高分解能を実現しています。この電子源は、よく定義された焦点サイズと運動エネルギーを持つ電子の配列を生成します。この源から放出された電子をサンプル上にスキャンし、高解像度とコントラストを特徴とする画像を作成します。JSM IT200Aは、多くの高度なイメージングモードを提供する高度なシステムです。これには、サンプルから放出されるX線または低エネルギー光子を検出するために、サンプルに垂直に焦点を当てた電子ビームを使用する二次電子(SE)イメージングが含まれます。また、背面散乱型電子(BSE)イメージングも備えており、斜めに電子ビームを用いて試料の外側から反射した電子を検出します。さらに、SEとBSEの組み合わせで同時SEとBSEイメージングを使用して、高コントラストの高解像度画像を提供することができます。JEOL JSM IT200Aは、大型サンプルの可変ビームエネルギー化、可変速度スキャン、可変倍率、可変スポットサイズ、焦点深度を実現します。倍率は10Xから500,000Xまで、オブジェクトフィールドは0。1ミクロンから2cmの範囲です。イメージング機能に加えて、IT200Aには包括的な分析ツールが組み込まれています。EDS(エネルギー分散X線分光法)、WDS(波長分散X線分光法)、EBIC(電子後方散乱回折法)、3D再構築などがあります。また、サンプル調製、分析、アーカイブのための自動システムを備えているため、一貫した品質の結果が得られます。サイズ面では、JSM IT200Aはわずか1,660 x 845 x 1,362 mm、重量はわずか310 kgの小型軽量マシンです。これにより、限られた予算とスペースにある研究室に最適です。全体として、JEOL JSM IT200Aは、優れた画像解像度とコントラスト、幅広い分析ツール、使いやすさのための高度なオートメーションを提供する高度なスキャン電子顕微鏡です。また、軽量で経済的でコンパクトなため、予算に応じたラボに最適です。
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