中古 JEOL JSM IC848A #9039276 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM IC848A
ID: 9039276
Scanning electron microscope (SEM) with EDS, 6" Includes: Full element analysis capability Large chamber design, 150 mm samples Load lock Full scanning in X and Y axis Observation of 10 nm or less Thermo Noran EDS detector (mounted) No software or other hardware Accelerating voltage: 0.2 to 40 kV (linked with bias, lens currents, and coil currents) Magnification: 10x (at 39mm working distance) to 300,000x 100x (fixed) Speciment movment rage: X-direction: 160mm Y-direction: 160mm Z-direction: 38mm Tilt : 0 to 60 degree Specimen exchange: By airlock: Up to 204mm dia. specimen holders By stage drawout: Available Speciment holder: 12.5mm dia. x 10mm H specimens (height adjustable) 102mm dia. x 0.5mm H specimens 153mm dia. x 1mm H specimens 204mm dia x 1mm H specimens.
JEOL JSM IC848Aは、幅広い分析およびイメージング用途向けに設計された高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。具体的には、このSEMは、生物学的および物理的サンプルを調査し、それらの微細構造の正確な分析を生成するために卓越した解像度を提供します。JEOL IC848Aは、幅広い分析機能を備え、様々な微細構造の高精度かつ高精度なイメージングが可能です。この強力で効率的なSEMには、高解像度Erwin Einzelレンズと高度なクアッドポール磁気電子カラムが取り付けられています。この技術の組み合わせは、サンプルの分析とイメージングにおいて高い精度を提供します。さらに、このSEMで使用されるスキャン装置は、微細なフィールドデザインを採用しており、低倍率でサンプルの細部をキャプチャすることができます。この機能により、JEOL IC848Aはスキャンおよびイメージングアプリケーションにとって貴重なツールとなります。さらに、この装置は電子光学カラムとデジタル読み出しシステムを備えており、0。02ミクロンの分解能でサンプルの構造の変化を検出することができます。JEOL IC848Aは、高分解能かつ高度な検出ユニットにより、金属、セラミックス、複合材料など様々な材料の微細構造を正確に測定することができます。JEOL IC848Aは、イメージング機能として、電子写真マルチプライヤーカメラと超高感度検出器を搭載しています。これらの両方の機能は、幅広い種類のサンプルに高品質で正確なイメージング結果を提供します。複数の画像キャプチャシステムを同時に操作することで、SEMの光学機能を制御し、時間を節約できます。JEOL IC848Aは、材料の微細構造を高精度に把握できる最新の軟X線リソグラフィ技術を融合し、その性能を向上させています。さらに、このSEMは、サンプルの表面レベルの詳細を検出し、任意の材料の元素分析を行うことができる統合検査機で動作します。全体として、JSM IC848Aは強力で高度な走査型電子顕微鏡であり、さまざまな分析およびイメージング機能を提供します。高度な機能と高解像度イメージングにより、様々な材料の微細構造を正確に特徴付け、分析する貴重なツールです。
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