中古 JEOL JSM 840A #9039277 を販売中
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ID: 9039277
Scanning electron microscope (SEM)
Includes:
Morphological observation
Full element analysis capability
Observation of specimen to 10 nm or less
Specification:
Resolution:
Secondary electron image: 4nm-10nm (WD = 8mm-39mm, Acc. Volt = 35kV)
Backscattered electron image: 10mn (WD = 8mm, Acc. Volt = 35kV)
Magnification: 10X-300,000X
Image modes: Secondary electron image
Backscattered electron image
Electron channeling pattern
Emission pattern image
Specimen movement:
X= 15mm, Y=25mm, Z=31mm, Tilt: 90 degree
Rotation: 360 degree endless.
Specimen holders:
12.5 mm dia. x 10 mmH, 32 mm dia. x 20 mmH, 50 mm dia. x 10 mmH
Specimen exchange Airlock type, up to 32mm dia. specimen.
JEOL JSM 840Aは、JEOL Ltd。が製造する精密走査型電子顕微鏡(SEM)です。電子顕微鏡のグローバルリーダーであるエンジニアリングカンパニー。JEOL JSM-840Aは、高分解能の低真空場放射走査型電子顕微鏡で、試料交換を必要とせずに、直径130mmまでの試料を様々な倍率やフィールドサイズで観察することができます。JSM 840Aは、高解像度イメージングを向上させるために、環境エンジニアリングチャンバー、最上位の80mm対物レンズ、および3メガピクセルの逆散乱型電子検出器を備えています。光学と検出器は最高レベルの精度で設計されており、最も正確なディテールで画像を提供します。さらに、JSM-840Aは柔軟性を提供するように特別に設計されており、幅広いオペレーティングパラメータとソフトウェアソリューションを備えています。この装置はさらに、材料科学イメージング用のエネルギーおよび角度分解イメージング機能を提供します。JEOL JSM 840Aは、カラム内のエネルギーセレクタを設置することにより、X線、電子、オーガー信号を正確に検出して分光解析を行うことができます。このユニークな機能は、多くの場合、サンプルの元素、形態、および化学分析に使用されます。JEOL JSM-840Aには最先端の制御機能が搭載されており、ユーザーは動作条件を正確に判断し、いくつかの単純なキーストロークで所定の条件セットに戻ることができます。さらに、システムの外部制御ソフトウェアを使用すると、複数の機器をリモートで簡単に制御できます。最後に、JSM 840Aは、高度な独自の冷却ユニットとハイブリッドドライブマシンにより、優れた再現性と動作安定性と画質を提供します。特殊導電性セラミック真空チャンバーにより、工具干渉をさらに低減し、より信頼性の高い分析および画像処理性能を実現します。JSM-840Aは、材料の研究と分析にとって非常に貴重なツールであり、科学的専門家のニーズを満たすことができる多くのJEOL製品の1つです。
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