中古 JEOL JSM 840A #293592718 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM 840A
ID: 293592718
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 840Aは、科学および産業分野における幅広い用途向けに設計された走査型電子顕微鏡(「SEM」)です。SEMは、エネルギー分散型X線分光法(EDS)システムを用いて、マイクロメートルからナノメートルまでのナノスケールの天体の高解像度画像を生成することができます。この装置は、生物学的材料における構造の可視化、低Z材料と高Z材料の両方の材料特性評価および元素分析など、イメージング、分析およびその他の科学的目的に最適化されています。JEOL JSM-840Aは、LANインターフェイスを備え、専用の高速画像処理を備えており、最大1メガピクセルの解像度を実現しています。オリジナルのスキャンサイズで最大100万倍、64倍以上の倍率を持ち、密集した細かい構造の高解像度画像を可能にします。EDSシステムは、可視波長からX線波長まで幅広い範囲で、低Z材料と高Z材料の両方を直接解析することができます。SEMには、対物レンズと試料の間の安定した経路を維持するユニークな「ささやき」レンズが搭載されており、収差のない高コントラスト画像を実現しています。JSM 840Aには可変圧力システムが装備されており、異なる大気条件下での動作や真空中でのイメージングが可能です。また、イメージコントラストをさらに最適化するために、ユーザーが独自に電圧と電流の両方を制御することができるパラメトロールレンズが装備されています。JSM-840Aは直感的でユーザーフレンドリーであるように設計されており、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)を含む強力なソフトウェアを提供しています。SEMには、セキュリティロックや防振システムなど、多くの安全性とセキュリティ機能が装備されており、ユーザーと機器の両方に安全な作業環境を確保します。全体的に、JEOL JSM 840Aは強力でユーザーフレンドリーな走査型電子顕微鏡で、ナノスケールの物体の特性評価とイメージングの両方に最適です。コントラストに優れた高解像度画像を作成でき、操作を簡素化し安全性を向上させるさまざまな機能を備えています。
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