中古 JEOL JSM 840 #175953 を販売中

JEOL JSM 840は、精密研究・解析用途向けに設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。高ビーム電流を発生させるフィールドエミッションガン（FEG）と、望ましい分解能とビーム容量のための幅広い電圧を備えています。デジタル信号プロセッサ（DSP）と高速スキャンにより、高速でスムーズなアクティブスキャンが可能です。超高解像度の傾斜角度検出器は、正確で迅速な自動傾斜を提供します。JSM 840は、最大300,000xの倍率範囲を提供し、解像度は1。0ナノメートルまでです。EDSシステムは素早く正確な元素分析を可能にします。さまざまなモード（SE、 BSE、 CL、およびSE/BSEチャネリングを含む）間の柔軟なスイッチング能力は、サンプルの汎用性を高め、より効率的な操作を可能にします。フロータイプのチャンバー制御は高真空を維持し、クローズドループ圧力制御はサンプルへの環境干渉を最小限に抑えます。JEOL JSM 840は、グラフィカル機能を備えた直感的なユーザーインターフェイスと、操作を簡素化する専用のグラフィックチップカードを備えています。最大256個のサンプルイメージをメモリに保存でき、遠隔操作で時間効率の良い使用が可能です。コンピュータ統合設計により、SEM/EDSやSEM/FIBなどの他のシステムと同時にJSM 840を動作させることができます。また、サードパーティ製ソフトウェアへのデータエクスポートもサポートしています。JEOL JSM 840は、信頼性の高い多目的サンプリングシステムで、さまざまな研究用途に優れた結果を提供します。その高性能システムは、ユーザーの労力を最小限に抑えて正確な測定を保証します。堅牢な設計と品質管理は、最高の信頼性と保守性を提供します。特徴と優れた性能を兼ね備えたJSM 840は、強力な走査型電子顕微鏡です。