中古 JEOL JSM 840 #175953 を販売中
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販売された
ID: 175953
Scanning electron microscope
Tungsten filament
Film Camera CRT with 4x4 and 120mm camera backs.
Orion digital capture system running on a separate PC which runs Windows 98.
Eucentric goniometer stage 15mm x, 25 mm y, 31 mm z.
Solid State Backscatter detector
Liquid nitrogen trap
Scan rotation and tilt correction
Dual frame/zoom control
Video recording mode
Includes operating manuals and schematics.
JEOL JSM 840は、精密研究・解析用途向けに設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。高ビーム電流を発生させるフィールドエミッションガン(FEG)と、望ましい分解能とビーム容量のための幅広い電圧を備えています。デジタル信号プロセッサ(DSP)と高速スキャンにより、高速でスムーズなアクティブスキャンが可能です。超高解像度の傾斜角度検出器は、正確で迅速な自動傾斜を提供します。JSM 840は、最大300,000xの倍率範囲を提供し、解像度は1。0ナノメートルまでです。EDSシステムは素早く正確な元素分析を可能にします。さまざまなモード(SE、 BSE、 CL、およびSE/BSEチャネリングを含む)間の柔軟なスイッチング能力は、サンプルの汎用性を高め、より効率的な操作を可能にします。フロータイプのチャンバー制御は高真空を維持し、クローズドループ圧力制御はサンプルへの環境干渉を最小限に抑えます。JEOL JSM 840は、グラフィカル機能を備えた直感的なユーザーインターフェイスと、操作を簡素化する専用のグラフィックチップカードを備えています。最大256個のサンプルイメージをメモリに保存でき、遠隔操作で時間効率の良い使用が可能です。コンピュータ統合設計により、SEM/EDSやSEM/FIBなどの他のシステムと同時にJSM 840を動作させることができます。また、サードパーティ製ソフトウェアへのデータエクスポートもサポートしています。JEOL JSM 840は、信頼性の高い多目的サンプリングシステムで、さまざまな研究用途に優れた結果を提供します。その高性能システムは、ユーザーの労力を最小限に抑えて正確な測定を保証します。堅牢な設計と品質管理は、最高の信頼性と保守性を提供します。特徴と優れた性能を兼ね備えたJSM 840は、強力な走査型電子顕微鏡です。
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