中古 JEOL JSM 820 #9287783 を販売中

JEOL JSM 820は、ナノスケールまでの対象物の高分解能イメージングを実現する走査型電子顕微鏡（SEM）です。タングステンフィラメントを使用して、静電レンズと電磁レンズを使用して検査するためにサンプルに焦点を当て、指示された電子のビームを生成します。サンプルを完全に充電してスキャンする必要があります。これは、二次電子ビームで爆撃することによって達成されます。これにより、サンプルから二次電子の雲が放出され、顕微鏡のイメージプロセッサに表示される画像が形成されます。JSM 820はスキャン速度が速いため、元のサイズの最大10万倍の倍率が得られ、オブジェクトの表面の細部まで検出することができます。画像モードの範囲は、光吸収面から非導電面まで、さまざまな試験片を検査することもできます。この顕微鏡は、精密なサンプル位置を提供する自動ステージを備えており、標本の画像をキャプチャするためのデジタルカメラが装備されています。JEOL JSM 820は、試料からのデータ収集も可能で、元素分析をはじめとする様々な実験に使用できます。電子ビームを受けた試料から放出されるX線のエネルギーを測定するエネルギー分散型X線分光計（EDS）を搭載しています。これにより、顕微鏡はサンプルの元素組成を推論することができます。また、自動断層撮影用にJSM 820を設定することができ、試料の立体画像を作成することができます。要するに、JEOL JSM 820は、ナノスケールまで対象物を検査するために使用できる強力な走査型電子顕微鏡です。高解像度のイメージングと自動サンプル位置の組み合わせにより、ハイエンドの分析と実験に最適です。自動化された断層撮影機能により、試料の立体的な再構築にも使用できます。