中古 JEOL JSM-7800FLV #293664356 を販売中
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ID: 293664356
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Type: Low vacuum
SM-53210RLV / Retractable LV system 2
SM-71481T1A2-7800F / 5-Axis motor drive stage type 1A2, (86mm Cov.XYR)
SM-71031SE2A-7800F / Specimen exchange airlock type 2A, 100mm x 40mm
JU2013785 / Deben chamber scope, PIP version
SM-73012TMP / Turbo molecular pump
LX1-AIR / Water chiller air cooled
SM-84030SRBE / Retractable BE detector
DEBEN-BSE-78R / DEBEN, Retractable motorised 4-quadrant solid state
- / Backscatter detector with 18mm ULkV diode
51P1000-51D1005 / Standard EDS System, X-Max 50, 50 mm, 127eV
JU2014377 / Environmental cell sample loader option for FE-SEM
JU2015273 / Environmental cell sample holder, Stainless steel
JU2014869 / DENTON Desk-V Sputter coater
JU2014776 / SHARPENER Electric 1/4", 1/8", 3/16" Carbon rods
CAR001-0057 / -
JU2007170 / Carbon rod accy
JU2003032 / Reduced section carbon rods box 100 CAR001-0024
JU2007744 / Gold/Palladium target TAR001-0159.
JEOL JSM-7800FLVは、優れた顕微鏡イメージングと性能のために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、これまで最高の解像度と倍率機能を提供し、マイクロストラクチャーを研究するための信頼性の高い正確なツールです。この装置は、Electro-Glasセラミック製の大きな70mmチャンバーを備えており、ナノスケールからマクロスケールまでのオブジェクトを高解像度で表示できます。これは、非常に明るく安定した電子ビームを提供する場の放出電子源の組み込みによってさらに強化され、より正確な結果を得ることができます。さらに、統合された防振システムは、安定性を高め、エラーの可能性を最小限に抑えます。SEMには強力なイメージングツールも用意されており、ユーザーはサンプルを最大限の精度と詳細で視覚化することができます。STEM （Scanning Transmission Electron Microscopy）とEDX （Energy Dispersive X-ray）技術を備えた高度な光学イメージングユニットで、比類のない3次元イメージングを実現しています。STEM機能を使用すると、原子レベルでサンプル成分を調べることができます。EDX機能を使用すると、元素分析と関連する濃度情報を得ることができます。便利のために、JSM-7800FLVはまた使いやすく、信頼できる両方である十分に自動化された標本の移動機械と来ます。これにより、コストのかかる手動プロセスが不要になり、ユーザーは研究の創造的な側面に集中することができます。全体として、JEOL JSM-7800FLVは効率的で汎用性が高く信頼性の高い走査型電子顕微鏡です。その高度な光学イメージング機能と自動化されたツールは、優れたイメージング性能と、サンプルを精度と精度で分析する能力をユーザーに提供します。これにより、SEMは材料科学からバイオメディカル応用まで、あらゆる分野の研究活動に理想的なツールとなります。
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