中古 JEOL JSM 7800F #293616742 を販売中

JEOL JSM 7800Fは、比類のない超高解像度イメージングとさまざまな強力な分析機能を組み合わせた高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。JEOL JSM-7800Fの高度なコラムアーキテクチャは、すべての動作モードで同時にイメージングと分析を可能にし、低電子線量で高リゾリューション、高コントラストイメージングを提供します。適切に設計されたオペレーティングコントロールとユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）により、オペレータはJSM 7800 Fの高解像度イメージングから最大限に活用できます。汎用性の高い描画機能、強力な自動露出制御、および統合されたクロマチックおよびオートフォーカス機能は、要求の厳しい操作で成功を確実に貢献します。JSM 7800Fは、オペレータが目的のアプリケーションに最適なシステム構成を選択できるようにする検出器の選択で構成することができます。二次電子（SE）、逆散乱電子（BSE）、インレンズ（IL）検出器は標準オプションとして用意されており、元素解析のために時空検出器を追加することができます。追加の検出器には、ナノ構造解析用の低角度検出器、酸化物表面を分析するための高角度検出器、特定の要素を測定するためのさまざまな検出器が含まれます。JEOL JSM 7800 Fは、広範囲のサンプルサイズ、形状、材料をカバーする、非常に汎用性の高い設計です。サンプルホルダーの広い範囲は最適な標本のローディングおよび安定した標本の位置を可能にします。交換可能なアノードは、超高シャープな顕微鏡分解能を提供し、微細構造の特徴とナノスケールの特徴を調べるのに理想的です。また、インカラムのエネルギーフィルターは、最適なイメージコントラストを確保するために柔軟に追加されます。JSM-7800Fには、ビデオビューファインディングとデジタルイメージング機能も搭載されており、サンプルロードとコンピュータ制御スキャンを高速化して、多段階解析を正確に管理できます。JEOL JSM 7800Fは、フィルム/シンカメラ、レーザースキャン共焦点顕微鏡、スキャニングトンネリング顕微鏡など、さまざまな周辺機器との統合も可能です。全体的に、JEOL JSM-7800Fは、高解像度、超高速スキャンとサンプリング、幅広い汎用性と柔軟性を提供します。最先端の柱アーキテクチャは、超高解像度、低電子線量イメージングを実現しますが、検出器と交換可能な陽極の選択は、幅広い材料に高品質のイメージングを提供します。さらに、GUIと統合されたデジタルイメージング機能により、サンプルの読み込みとコンピュータ制御を高速化し、多段階解析を実現します。