中古 JEOL JSM 7600F #9037223 を販売中

JEOL JSM 7600Fは、生体試料から無機試料までの様々な物質の形態を画像化・解析するために使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。7600Fによって生成された画像とデータは非常に高解像度を提供し、研究者、ナノテクノロジスト、マテリアルデザイナーに貴重な情報を提供します。7600Fは、自動フォーカスエレクトロニクスの助けを借りて、最大0。2 nmの超高解像度を提供するBerylium光学システムを備えたフィールド放射SEMであり、自動的にターゲット領域にフォーカスを調整するのに役立ちます。このシステムには、Oxford INCA Energy™ Dispersive X-Ray （EDX）検出器が含まれており、サンプルから放出されたX線を検出して要素組成を識別することができます。これは、サンプル上の最小の機能でも高解像度のイメージングを提供します。さらに、JSM 7600Fは高い並列処理と高速処理機能を備えており、大きなデータを短時間で画像化および処理することができます。オンボードソフトウェアにより、試料の調製、倍率、コントラスト設定などのSEMおよびEDX条件を最大限にユーザー制御できます。装置に連続操作のために造られ、装置の部分の寿命を高める堅く、強い機械プラットホームがあります。この7600Fは、半導体分析からナノプロッティングまで、回路基板、金属合金、結晶構造、有機化合物など、さまざまなサンプルに適しています。機知に富んだデバイスは、サイト調査と分析、故障分析、トモグラフィーを自動化することもできます。JEOL JSM 7600Fは、高精度、高精度、高解像度を組み合わせ、研究者や材料設計者に強力なイメージングおよび分析ツールを提供します。高度な機能と機能を備えたこのデバイスは、さまざまなアプリケーションに適しており、研究室やエンジニアリング業界にとっても非常に貴重な資産となっています。