中古 JEOL JSM 7600F #293660103 を販売中

JEOL JSM 7600F
製造業者
JEOL
モデル
JSM 7600F
ID: 293660103
ヴィンテージ: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM) 2012 vintage.
JEOL JSM 7600Fは、優れた性能、操作性、信頼性を提供するように設計された高度な走査型電子顕微鏡です。この走査型電子顕微鏡は、イメージングから位相解析まで、最大0。2nmの分解能で様々な作業を行うことができます。JSM 7600Fには高性能電子光学機器が搭載されており、動作電圧は0.5-30kV、ビーム電流は最大0.5nAです。これにより、最大解像度と最適化されたフォーカス制御が可能になります。また、新しいデジタル信号処理モジュールを備えており、ユーザーは優れたコントラストで高品質の画像をキャプチャすることができます。このデバイスには広い視野が装備されており、最大限のディテールでより大きな画像を得ることができます。統合されたエネルギーフィルタにより、ユーザーは正確な分光画像とX線マッピングを取ることができます。これにより、ユーザーは、地形や化学マッピングなどのより複雑な分析機能を実行することができます。このデバイスはまた、すべての異なるサンプルタイプに安定したプラットフォームを提供するように設計された特別なサンプルホルダーを備えています。これにより、性能レベルを損なうことなく、サンプルの柔軟性を高めることができます。また、ホルダーは3軸ステージ位置決めシステムを備えており、粗くて微調整された調整のための最大限の動作範囲を提供します。その他の機能として、デジタルイメージキャプチャ、複数の標本ホルダー、高度な情報オーバーレイユニットがあります。デジタルイメージキャプチャは、高品質の画像結果をユーザーに提供し、複数のホルダーは19mm、 37mm、および75mmのピンスタブをサポートします。高度な情報オーバーレイマシンは、ユーザーがより良いサンプル機能を観察することができます。このツールは、熱、電気、磁場などのさまざまな環境条件にも対応しています。全体として、JEOL JSM 7600Fは強力で信頼性の高いツールであり、ユーザーは精度と精度でさまざまなイメージングと分析タスクを実行することができます。この走査型電子顕微鏡は、優れた画像解像度を提供し、さまざまなサンプルの種類や環境に対応することができます。これは、信頼性と正確な分析を求めるユーザーのニーズを満たすように設計された信頼性の高い、有能なツールです。
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