中古 JEOL JSM 7600F #293653209 を販売中
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ID: 293653209
ヴィンテージ: 2009
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
EDAX
Resolution: 1.0 nm at 15kV
Accerlating voltage: 0.1 kV-30 kV
Magnification range: 25x-19000x
Prober current: 1 x 10^-13 order to ≥2x10^-7 A
Electron optics:
Conical anode gun (Schottky type, in-lens field emission)
Probe current range: <1 pA to >200 nA
Automatic gun isolation valve
Adjustable OL aperture strip
Scanning system:
Digital scan generator system
Digital scan rotation linked to kV and WD
Computer eucentric tilt compensation
Specimen chamber and stage
Vacuum
Chilller
Detector: Electron detector, Backscatter electron detector
Operating system: Windows 7 professional
2009 vintage.
JEOL JSM 7600Fは最高の性能のために設計されている走査型電子顕微鏡（SEM）です。多くの先進的な機能や用途が組み込まれており、幅広いサンプル分析に使用できます。この顕微鏡は汎用性が高く、真空モードと環境モードの両方で使用できるため、さまざまな研究用途に最適です。JSM 7600Fは最新の電子光学技術を活用し、優れた解像度とコントラストを提供します。JEOL JSM 7600Fの電子光学設計は、スキャンされた視野に基づいています。このスキャンパターンは、顕微鏡が異なる焦点深度と角度で画像をキャプチャできるようにするために使用され、より詳細で高精度な画像が得られます。このスキャンパターンにより、顕微鏡はコントラスト、解像度、速度を改善したデジタル画像を生成することができます。JSM 7600Fには、サンプル分析用の強力なエネルギー分散型X線 （EDX）分光計も含まれています。EDX分光計は、元素間のエネルギーレベルの差を検出して測定することができ、詳細なサンプル元素分析が可能です。これらの測定値は、サンプルに存在する要素を正確に識別するために使用できます。さらに、EDX分光計を使用すると、サンプルのさまざまな領域における元素の濃度を測定および比較することができます。また、JEOL JSM 7600Fでは、画像処理や解析に高度なソフトウェアを活用しています。このソフトウェアを使用すると、画像を簡単に操作および分析し、3D画像を生成し、大量の画像からデータセットを生成することができます。また、オートフォーカス、自動視野、自動試料ドリフト補正などの自動機能も備えています。JSM 7600Fは、さまざまな研究アプリケーションに最適な非常に強力で多機能な機器です。高度な電子光学、EDX分光計、ソフトウェアを組み合わせることで、サンプル分析のための汎用性と信頼性の高いツールとなります。JEOL JSM 7600Fは、材料を研究したり、実験を行ったりする研究室にとって不可欠な機器です。
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