中古 JEOL JSM 7500F #293643351 を販売中

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製造業者
JEOL
モデル
JSM 7500F
ID: 293643351
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 7500Fは、材料の構造や表面を調べるために使用される高度な走査型電子顕微鏡(SEM)です。このタイプの顕微鏡は、焦点を当てた電子ビームを試料材料に放出し、試料から跳ね返される電子信号を収集することによって機能します。この顕微鏡は、高精度の材料の組成と構造の両方を観察するために使用されます。JEOL JSM-7500Fは4種類の電子光学レンズを搭載し、高解像度の画像処理が可能です。これは、市場で最も高解像度のSEMの1つであり、15kVで1。3nmの解像度に達しています。また、二次および後方散乱電子検出器、元素分析用EDX検出器、カソドルミネッセンス(CL)検出器、精密な高加速電圧検出器など、さまざまな用途の検出器も幅広く用意されています。この顕微鏡には、サンプルホルダーを3軸で移動・回転させる自動高速ステージが装備されています。また、特許取得済みの「Smart Eye」オートフォーカス・システムを搭載しており、フォーカス処理を自動化し、画像処理を高速化し、より正確な結果を得ることができます。また、低真空運転でのサンプルのイメージングが可能で、充電効果の発生を低減し、時間のかかるサンプルコーティングを必要とせずに高解像度のイメージングが可能です。さらに、対象となる領域を自動的に測定するオートエリア取得機能を搭載しています。収集した画像はソフトウェアスイートを搭載して操作することができ、簡単な解析、比較画像シーケンスの作成、複数の画像データセットの統合が可能です。また、タッチスクリーンコントロールユニットと、ユーザーが素早くアクセスして実行できる幅広いプリセット操作を備えた使いやすさのために設計されています。JSM 7500Fは、研究と産業用途の両方で材料を研究するための理想的なツールです。
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