中古 JEOL JSM 7500F #293641220 を販売中

JEOL JSM 7500Fは、表面およびサンプルの特徴の高度なイメージングおよび分析に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。このSEMは、詳細な表面表示のためのステージサンプルスキャン、複数の領域の同時イメージングのためのマルチビーム電子カラム、および金属や半導体から有機化合物まで幅広い材料を分析する能力を含む、高度なイメージングおよび分析機能を備えています。JEOL JSM-7500Fは高感度で、最大加速電圧30kVの電子カラムと高速データ収集装置を備えています。最大60枚/秒の画像、最大2000×2000ピクセルの画像サイズを提供します。また、材料の正確なイメージングのための高速X線マッピングユニットを備えています。また、高精度のコンピュータ制御サンプルステージを搭載し、正確なサンプルポジションを実現しています。また、JSM 7500FにはEDS/EDX分光法を含む高度な分析機能があり、高解像度の元素マッピングによるサンプルの同時分光解析が可能です。また、電子ビームを用いたエネルギー分散型X線画像は、X線の強度に基づいて画像を取得することができます。さらに、JSM-7500Fは、取得したデータの操作と解釈を可能にする画像処理と分析機能を備えた高度な自動化を提供します。また、EBSD測定機能を搭載しており、結晶構造と粒界の自動マッピングが可能です。結論として、JEOL JSM 7500F走査型電子顕微鏡は、材料の表面イメージングと分析のための強力で信頼性の高いツールです。強力なイメージング機能と汎用性の高い分析機能を備えており、さまざまな複雑な材料を分析する研究室や研究施設に最適です。