中古 JEOL JSM 7401F #9229628 を販売中

JEOL JSM 7401Fは、JEOLが設計・製造した走査型電子顕微鏡（SEM）で、電子ビームを用いて試料表面の高解像度画像を生成します。SEMの主な構成要素は電子を放出するフィラメント、陽極および電子を加速してビームに集中させる焦点要素からなる電子銃である。ビームは標本に向けられ、反射された電子は画像を形成するために集められる。JEOL JSM-7401Fは、イメージングプロセス中に安定した性能を達成することができる高品質の電子カラムを持っています。また、生成された電子のエネルギーを検出することができるエネルギー分散分光（EDS）検出器を備えています。EDS検出器は、試料中に存在するさまざまな元素を識別することができ、これは材料分析に役立ちます。JSM 7401 Fにはいくつかの機能があり、研究開発アプリケーションに適しています。これらの特徴の1つは、高解像度イメージング（最大0。5nm）で、表面と内部構造の両方を詳細に研究することができます。SEMはまた、低真空モードを備えており、ユーザーは低真空レベルで動作することができ、非導電材料を比較的高速で検査することができます。イメージング機能に加えて、SEMには可変圧力イメージングと呼ばれる機能もあります。これにより、動作条件を高真空から低真空レベルに変更でき、電子は反射される前に試料にさらに浸透することができます。JSM-7401Fはまたユーザーフレンドリーであるように設計されています。SEMにはデジタルカメラとディスプレイが搭載されており、ユーザーはスキャン中の標本を簡単に監視できます。SEMには自動化されたステージもあり、正確なサンプルの位置決めとスキャンが可能です。全体として、JEOL JSM 7401 Fは、電子顕微鏡、材料分析、表面解析など幅広い用途に適した汎用性の高い走査型電子顕微鏡です。優れたイメージング機能と機能を備えており、効率的で信頼性の高い動作を保証します。