中古 JEOL JSM 7401F #9206955 を販売中

JEOL JSM 7401Fは、試料材料の高解像度イメージングと特性評価を可能にする走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、サンプル上でスキャンされる集中電子ビームを使用して行われます。スキャンされた電子は材料と相互作用し、画像を構築するために利用できる信号を生成します。SEMは、分析対象の試験片の種類に応じて、高真空または高圧環境で動作します。高真空モードは、イメージングと特性評価の解像度を向上させるために低ノイズ環境を作成します。高圧モードでは、材料の変形や分解などの様々な現象を誘導するために、最大7MPaの圧力を持つサンプル環境が提供されます。JEOL JSM-7401Fには電子光学カラムも付属しており、イメージング解像度を最大化するために最小0。5nmのスポットサイズのスキャン電子ビームを提供します。さらに、フィールドエミッションガン（FEG）などの異なるタイプの電子銃を幅広い用途に交換することができるインコラム銃交換器も含まれています。SEMは、最大スキャン面積100x100mmの高精度XYステージを備えた高速プレートシステムを搭載しており、広域の高速イメージングに最適です。システムのビーム加速電圧は0。5〜30kVで、ビーム電流は0。2〜50nAです。このシステムには、最大10ギガピクセル/秒の信号データを取得できる専用の信号プロセッサも装備されています。JSM 7401 Fは、ユーザーアクセシビリティを向上させるために、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスを統合したコンピュータ制御です。関連するすべてのイメージングおよび信号処理制御パラメータは、検出および測定オプションを含むインターフェイスを介して調整して、異なる材料パラメータを分析することができます。最後に、JSM 7401Fには、地形イメージング、コンポジションイメージング、元素解析、3Dモデリングなど、多くの分析および分析機能を可能にするソフトウェアパッケージがあります。このSEMは、材料科学、自然科学、半導体など、さまざまな分野に応用できる汎用性の高い機器です。