中古 JEOL JSM 7401F #293750575 を販売中

JEOL JSM 7401Fは、高解像度サンプルイメージングおよび解析に最適な走査型電子顕微鏡（SEM）です。最大400,000X倍を誇るこの機器は、さまざまな種類の材料の微細構造を解決するための強力なツールです。JEOL JSM-7401Fは、超高真空モードと低真空モードを備えた高品質のイメージングを提供し、有機サンプルと無機サンプルの両方の非常に詳細な画像と分光データを生成することができます。SEMは、FEGレンズと相まって、画像の品質を向上させ、スキャンあたりのコストを削減するフィールド放射ガン電子源を備えています。この装置は、大規模なサンプルエリアのイメージングや迅速なサンプルスキャンに最適です。これには、二次電子イメージング、後方散乱電子イメージング、さらには陰極発光イメージングなど、いくつかのイメージングモードがあります。SEMは、ユーザーのニーズに応じて波長分散分光（WDS）とエネルギー分散分光（EDS）を実行することもできます。イメージング機能に加えて、SEMには、ユーザーが大きなサンプルエリアを素早くナビゲートできるナビゲーションシステムもあります。このナビゲーションシステムは、欠陥、欠陥、サンプル内の特定の要素の存在など、さまざまな関心領域を見つけるのに役立ちます。また、同じサンプルの複数のスキャンで簡単にデータを比較することができます。semは、データ管理とソートを容易にする大容量のメモリを搭載したオンボードPCを備えています。さらに、この機器は、より高度なデータ操作機能のためにWindows OSとも互換性があります。要約すると、JSM 7401 Fは、さまざまな種類のサンプルのイメージングに適した高度で強力な走査型電子顕微鏡です。高度なイメージング機能、大きなステージ、高品質の画像解像度、優れたデータ管理オプションを備えたこの機器は、利用可能な最高の倍率で顕微鏡の機能を解決するのに理想的です。