中古 JEOL JSM 7400F #9384379 を販売中

JEOL JSM 7400Fは、材料科学および生物学研究における幅広い用途向けに設計された電界放射走査型電子顕微鏡（FESEM）です。JSM 7400Fは、統合されたUltra High Vacuum （UHV）装置と高解像度のエネルギー分散型X線検出器を備えた高度なFESEMです。この顕微鏡の電子源は、高解像度のイメージングを提供し、運用コストを削減する六価電界放射銃（FEG）です。FEGは、最適な性能を得るために電圧、電流、および銃角度を正確に制御するアクティブ可変電子銃制御（VEGC）システムによって駆動されます。パワフルで高解像度の静電レンズには、可変コンデンサの開口部とフィールドダイヤフラムが装備されており、正確な画像制御が可能です。JEOL JSM 7400Fは、信号対雑音比が非常に高く、これまでにない速度と感度を実現するよう設計されています。また、低真空モードを内蔵しており、電気的および機械的に敏感なサンプルとの統合を可能にします。エネルギーフィルタは0。9 eV以内に分解能を提供し、カラム内のサンプルチャンバーは生物標本を含む最小から最も重い材料まで幅広いサンプルに対応します。この顕微鏡は精密な分析装置であり、高度なX線検出器で正確で信頼性の高い測定を提供します。エネルギー分散分光（EDS）ユニットは、サンプルの化学組成を識別することができます。統合された波長分散分光（WDS）マシンは、高感度と優れた精度でエレメンタルマッピング機能をさらに強化します。JSM 7400Fは、室温（20°C）から300°Cまでの温度範囲で動作可能です。従来のレンズ検出器とインレンズ検出器を搭載しており、大型試料室では複数の検出器との同時撮影が可能です。JEOL JSM 7400Fのユーザーフレンドリーなデザインには、ユーザーインターフェイスとナビゲーションコンソールが整っており、使いやすさと正確な制御が可能です。JSM 7400Fは、幅広い材料や生体試料の多用途な分析とイメージングのために設計された、高度で高性能な電界放出走査型電子顕微鏡です。優れたイメージング分解能、広いサンプルチャンバー、高度なFEGおよびX線検出器による信頼性の高い正確なテストを提供します。JEOL JSM 7400Fの便利なユーザーインターフェイスと精密分析機能により、今日の科学研究において信頼性の高い最先端の選択肢となります。