中古 JEOL JSM 7400F #9272205 を販売中

JEOL JSM 7400Fは、材料や表面科学など様々な用途でよく使用される最先端の走査型電子顕微鏡（SEM）です。高解像度イメージング、元素マイクロアナリシス、3D地形再構成など、幅広い機能と使い勝手に優れています。JSM 7400Fの中心には、高解像度のイメージングを0。5 nmまで下げる電磁垂直フィールドレンズ装置があり、被写界深度が向上しています。このシステムは、サンプルの最適なイメージングのための高分解能の二次電子検出器と連携して動作します。レンズユニットと組み合わされた汎用性の高いX線マイクロアナリシス装置です。このツールを使用すると、ベリリウムからウラン（B-U）までの幅広いエネルギーでサンプルの非破壊元素分析を行うことができます。JEOL JSM 7400Fは、高い電流密度と優れた安定性を有する環境電界放射銃をさらに活用し、自然な画像形成電子を提供します。このライフルは、高コントラストイメージングに優れているため、絶縁材などのサンプルのイメージングや分析に最適です。さらに、このユニットには、EDX、 WDX、 BSD、およびその他の分析用の追加検出器とともに、幅広い真空圧力オプション、いくつかの対物レンズなどのアクセサリがあります。最後に、JSM 7400Fは、サンプルの地形イメージングに3Dイメージング技術を活用しています。この技術により、ユーザーは2D画像から3D再構成を作成することができ、表面形状や形状を正確に理解することができます。3Dイメージングのアセットは、高解像度のエレクトロポリッシングと組み合わせることで、より優れた表面ディテールの高解像度画像を得ることができます。結論として、JEOL JSM 7400Fは、サンプル分析とイメージングのための強力な走査型電子顕微鏡です。高解像度イメージング、元素マイクロアナリシス、および材料や表面の詳細な分析のための3D地形再構成などのさまざまな機能を備えています。JSM 7400Fは、その高度な機能と多彩なデザインを通じて、様々な分野の研究のための優れたツールです。