中古 JEOL JSM 7200F #9376080 を販売中

JEOL JSM 7200F走査型電子顕微鏡（SEM）は、高分解能・高スループットイメージング・解析用の汎用機器です。材料科学から生物研究、産業検査まで幅広い用途に適しています。JSM 7200Fは、電子光学系とさまざまな電子検出器を組み合わせて、ナノメートルスケールのサンプルの詳細な画像を生成します。その電界放出ガン電子源は、超低倍率でも高いビーム電流を提供し、硬質材料と軟質材料の両方の詳細なイメージングを可能にします。JEOL JSM 7200Fには、さまざまな自動分析機能も組み込まれています。エネルギー分散型X線分光法（EDS）と波長分散型X線分光法（WDS）はサンプルの化学情報を提供し、自動化された画像処理ルーチン（MAPS）はサンプルの地形を正確に3次元測定します。JSM 7200Fには、表面イメージングに最適化されたSEIとBSEを含むいくつかの高解像度イメージングモードと弱い吸収要素があります。背面散乱検出器（BAD）モードは厚い生物学的断面の高感度画像を生成しますが、Tomography Scanning ADC （TSADC）モードを使用すると、3D標本のすべての詳細を単一の画像でキャプチャできます。JEOL JSM 7200Fは、広範囲のモーションコントロールを備えた200mmステージを誇ります。フルフロアプラン傾斜システムと6軸モーションコントロールシステムにより、あらゆる傾斜角度で最適化されたイメージングが可能です。電動フォーカスにより、JSM 7200Fはサンプル表面全体を追跡し、イメージングを強化することができます。JEOL JSM 7200Fの高度な機能には、野良ビーム放射を抑制するビームブランカー、チャンバーを清潔に保つための自動デブリコレクタ、サンプル温度を安定させるための統合冷却システムなどがあります。JSM 7200Fの厳格な設計と最先端の技術の組み合わせにより、幅広い研究および産業用途に最適です。その優れたイメージング機能、分析ツールの範囲、直感的なユーザーインターフェースは、ハードとソフトの両方のナノ科学や他の材料を調査するための理想的なツールになります。