中古 JEOL JSM 7000F #9279675 を販売中
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ID: 9279675
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Computer
Detectors:
Secondary Electron Image (SEI)
Backscatter (BEI-TOPO/COMPO)
Electron Backscatter Diffraction Detector (EBSD).
JEOL JSM 7000Fは、低電圧場発光走査型電子顕微鏡（SEM）です。高倍率表面のイメージングおよび解析に使用される強力なツールであり、軟質生物材料から硬質金属およびセラミック物質まで、さまざまな材料の高解像度イメージングを可能にします。JEOL JSM 7000 Fはショットキー電子電界放射砲を採用し、バックグラウンドノイズの少ない高輝度電子の放出を可能にします。これにより、最大2nmの解像度を持つ画像で、優れた解像度とコントラストを実現します。SEMの高いイメージング品質は、さまざまな事前設定機能を備え、さまざまな種類の分析にカスタマイズすることができる高度なソフトウェアシステムによってさらに強化されています。JSM 7000Fは、高真空から大気までの圧力での動作を可能にする可変圧力チャンバーを備えています。これにより、自家環境での標本の観察と、観測や二次電子信号への高圧効果の観察が可能になります。このSEMの他の特徴には、電動試料ステージを備えた大型試料室と、大きな視野（最大50mm）があり、より大きな試料の研究が可能です。高速デジタル画像取得システムは、バックスカッタ電子（BSE）、コンポジションマップ（EDX）、位相/結晶学（EBSD）などの幅広い画像技術を使用して、毎秒最大5フレームのキャプチャを可能にします。SEMは非常にユーザーフレンドリーで、タッチスクリーンディスプレイと直感的なユーザーインターフェイスを備えているため、ユーザーはさまざまな設定や測定を簡単に設定できます。また、検出器、試料ホルダー、サンプル調製システム、イメージングシステムなどの専用アクセサリも付属しており、特定の種類の分析用にJSM 7000 Fをカスタマイズできます。全体として、JEOL JSM 7000Fは非常に汎用性が高く強力なSEMであり、高解像度のイメージングおよび解析機能、調整可能な圧力チャンバ、ユーザーフレンドリーなインターフェースを備えています。これらの機能により、材料科学からライフサイエンスまで、幅広いイメージングおよび解析アプリケーションに最適です。
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