中古 JEOL JSM 7000F #9227135 を販売中
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JEOL JSM 7000Fは、高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）で、オペレータに包括的な解析機能と優れた画像解像度を提供します。超高真空（UHV）システム、高度なコントラスト技術、幅広い分析アクセサリーを備えています。その結果、JEOL JSM 7000 Fは、神経科学研究、材料科学、産業故障解析、法医学研究など、さまざまな用途に広く使用されています。JSM 7000Fは、20mmのギャップサイズと幅広い支持電流範囲を備えており、高解像度で細部まで検査することができます。また、本製品の電界放射源により、より低い動作電圧で高分解能のイメージングが可能となり、信号対ノイズ比が向上し、コントラストが改善されます。さらに、UHVシステムは優れたサンプル安定性を提供し、サンプルの読み込み/アンロードを迅速かつ容易にします。JSM 7000 Fには、電子背面散乱回折（EBSD）、エネルギー分散X線分光法（EDS）、 X線マッピング、電子誘導X線放射（EIKE）機能などがあります。これらのコンポーネントにより、試験片の構造、組成、特性に関する詳細な情報を迅速に取得できます。JEOL JSM 7000Fは、SPMプローブやラマン分光法などの補完技術と組み合わせることで、分析能力をさらに高めることができます。JEOL JSM 7000 Fは、顕微鏡の性能を監視、最適化、最大化するための多数のソフトウェア制御ツールを搭載しています。提供されるソフトウェアコントロールの一部には、画像スタッキング、自動画像ステッチ、ビデオ録画が含まれます。これにより、ユーザーはその後の分析のためにデータを簡単にキャプチャできます。この顕微鏡は直感的なユーザーインターフェイスも備えており、オペレータはすべてのコントロールと機能にすばやくアクセスできます。全体として、JSM 7000Fは、高度で分析的な研究のための強力で高性能なSEMを求める人に最適です。UHVシステム、幅広い分析機能、直感的なソフトウェアにより、さまざまなアプリケーションに優れた結果を提供します。
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