中古 JEOL JSM 7000F #293634856 を販売中

JEOL JSM 7000Fは、さまざまな材料の表面と構造を観察するために使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、3D表面イメージング、高解像度イメージング、EDS、 WDS、高解像度格子イメージング、X線マッピングなど、高度なイメージングおよび分析ニーズに対応するために十分に装備されています。SEM技術は、有機物から無機物、金属、鉱物、結晶など、幅広い材料を調べるための貴重なツールです。例えば、JEOL JSM 7000 Fは、タングステンフィラメント電子源を使用する場合、3nm以上の解像度の画像を生成することができます。10,000 μ m/sの超高いスキャン速度により、高速なオブジェクトスキャンが可能です。一方、高真空チャンバーは、より詳細な広い領域の検査を可能にします。このシステムの他の特徴としては、2nmの小型試料の高解像度イメージングを可能にするUPS Field Emission Gun （FEG）、動作圧力の低下による高速性能、およびその場での実験の可能性が挙げられます。このユニットには、干渉フィルター、ステージライザー、ホルダーなどのさまざまなイメージングアクセサリー、および実験中にコンポーネントを操作するために使用できるその他の機械部品が含まれています。さらに、高度なエネルギー分散分光法（EDS）、波長分散分光法（WDS）、 X線マッピング機能により、サンプルをより詳細に分析できます。分析用途では、JSM 7000Fを使用して、金属、合金、バイオマテリアル、半導体など、さまざまな材料で元素マッピングを行うことができます。原子レベルおよびナノスケールレベルでの材料のイメージングが可能であり、FEG銃の追加により、さらに小さな物体のイメージングが可能になります。さらに、さまざまなサンプルタイプの画像をキャプチャ、分析、操作できるさまざまなソフトウェアパッケージを搭載しています。全体として、JSM 7000 Fは高度で信頼性の高い走査型電子顕微鏡であり、イメージングから元素マッピングまで幅広い用途に適しています。超高解像度の拡張ユーザー機能などのその機能は、高度なイメージングや分析ニーズに最適です。