中古 JEOL JSM 7000F #293622852 を販売中

JEOL JSM 7000Fは、走査型電子顕微鏡（SEM）の一種です。これまでにない解像度と分析性能を提供する高性能機器で、ユーザーは微細な構造を簡単に観察および分析することができます。JEOL JSM 7000 Fの高度な光学システムは、細部のシャープでハイコントラストな画像処理を実現します。このユニットには、高解像度の画像と強力な光学拡大力を提供するCCDカメラが装備されています。JSM 7000Fは、水素タイプと差動モードの両方の解析用に設計されています。微量元素を高精度に検出することができます。また、完全に自動化された自動イメージングツールを備えているため、画像データを高速かつ正確にキャプチャできます。JSM 7000 Fは、複数のエネルギー分散型X線 （EDX）分光解析も可能です。EDX分光法は、ミクロンスケールの元素組成物やその他の顕微鏡的特徴を分析するために使用されます。これにより、サンプル中に存在する元素、およびその大きさと相対強度を識別することができます。この700Fは、半導体の検査を伴うEDX分光研究も行うことができます。JEOL JSM 7000Fは、高分解能走査型電子顕微鏡（HR-SEM）用途にも使用できるように設計されています。このアセットには、検出器の解像度と拡大電力を正確に制御できる高分解能のコラムコントロールユニット（HRCCU）が装備されています。これにより、ミクロンスケールの信号を正確にマッピングし、高解像度の画像でキャプチャすることができます。JEOL JSM 7000 Fには、自動ステージ傾斜制御ユニットなどの性能向上部品も多数搭載されており、試料のさらなる分析が可能です。機器のソフトウェアはまた、データの評価を支援し、研究されている構造の理解を高めるための画像処理および分析ツールの広い範囲を提供します。全体として、JSM 7000Fは、顕微鏡構造の詳細な画像と測定を提供できる強力な走査型電子顕微鏡です。高度な光学系、自動イメージングユニット、各種性能向上部品により、電子顕微鏡に最適な装置です。