中古 JEOL JSM 6700F #9402131 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM 6700F
ID: 9402131
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Computer control Imaging Semi in-lens Resolution: 1280 x 1024 Pixels EDS with variety of detectors GUI Interface Mouse Operating system: Windows 7 Cold cathode field emission electron gun Electromagnetic deflection alignment Conical objective lens Conical FE Gun Specimen chamber, 8" Resolution: 1.0 nm at 15 kV 2.2 nm at 1 kV Magnification: LM Mode: 25 - 19,000 SEM Mode: 100 - 650,000 Modes of operation: Secondary Electron (SE) mode With lower SE Detector In-Lens detector with voltage filter Backscattered Electron (BSE) mode With retractable solid state THERMONORAN VANTAGE X-Ray microanalysis system Power supply: Accelerating voltage: 0.5 - 30kV Specimen illumination current: 10^-13A to 2 x 10^-9A.
JEOL JSM 6700Fは、高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。この特定のSEMは非常に汎用性が高く、高度なイメージング機能を備えているため、多くの高度なイメージングアプリケーションに最適です。JEOL JSM 6700 Fは、フィールドエミッションガン(FEG)電子源を使用して設計および構築されており、優れたエネルギー分解能と最小ビームドリフトを保証します。このモデルには、Everard Tillyインレンズイオン検出器とOMISA Omnispectral検出器が搭載されており、最適な画像焦点と品質を提供し、幅広い画像処理能力を提供します。JSM 6700Fには、デジタルスキャン制御システム、明るい照明器、回折機能を備えたイオン検出器、高解像度デジタルカメラシステムなどがあります。JSM 6700 Fは、1。5nm以下の優れた画像分解能を提供することができ、細胞構造の小規模画像や粒子表面トポグラフィなどの高度な用途に最適です。さらに、自動スキャン制御システムにより、迅速かつ正確なサンプルナビゲーションとイメージングが可能になり、効率と信頼性が向上します。このモデルはまた、フィールド放出と二次電子イメージングの両方の機能を備えており、ユーザーは地形と組成の両方の詳細をキャプチャすることができます。JEOL JSM 6700Fは、最高のイメージングおよび分析要件を満たすように設計された堅牢で信頼性の高い汎用性の高いSEMです。これは、細胞やナノ粒子から材料や集積回路まで、さまざまなサンプルの詳細なイメージングと分析を行うための理想的なツールです。このモデルは、イメージング制御を強化するためのデジタルカメラ、サンプル表示用の明るい照明器、および幅広いイメージングおよび分析機能を備えており、幅広い実験用途に最適です。
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