中古 JEOL JSM 6700F #9356046 を販売中

JEOL JSM 6700Fis高性能場放出走査型電子顕微鏡（FESEM）です。2次電子モードと2次電子モードの両方でイメージングが可能なマルチモード検出器を搭載しています。これにより、顕微鏡をイメージングと分析の両方に使用することができます。また、この顕微鏡には「プラグ可能」なインコラム絞りシステムが取り付けられています。これにより、可変ビーム収束による角度依存イメージングが容易になり、複雑なサンプルで細かいディテールを解決できます。主なFESEMイメージングは、優れた画質と柔軟性を備えています。これは、その超高輝度ソースと加速電圧やビーム電流などの調整可能な動作パラメータのおかげで達成されます。また、FESEMは完全にデジタルハードウェアとソフトウェア制御を備えており、ユーザーインターフェイスを介してリモートで操作することができます。FESEMにはオートステージスキャンシステムも装備されています。これにより、サンプルを複数方向にスキャンし、自動的に位置を再現できるようになります。このステージには、3Dイメージング機能用の内真空ロータリーステージも内蔵されています。JEOL 6700F FESEMは、様々な分析技術も可能です。エネルギー分散X線分光法（EDS）および波長分散X線分光法（WDS）に使用できます。これらのツールは、サンプル成分の元素分析（定性的および定量的）を提供することができます。さらに、FESEMは、電子エネルギー損失分光法（EELS）の測定に使用することができます。全体として、JEOL JSM 6700Fは、イメージングおよび分析アプリケーションの両方で材料を分析するための強力で汎用性の高いツールです。その高性能特性と高度な分析測定を行う能力は、材料科学、ナノテクノロジー、半導体デバイス製造の分野の研究者にとって貴重な機器となります。