中古 JEOL JSM 6700F #9233189 を販売中
この商品は既に販売済みのようです。下記の同じようなプロダクトを点検するか、または私達に連絡すれば私達のベテランのチームはあなたのためのそれを見つけます。
タップしてズーム
販売された
ID: 9233189
ヴィンテージ: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution:
1 nm at 15 kV
2.2 nm at 1 kV
Magnification: 25x - 650,000x
Sample size: 40 mm (D) x 20 mm (H)
Movement range:
X: 70 mm
Y: 50 mm
Z: 1.5-25 mm
Tilt: -5°-60°
Rotation: 0°-360°
Voltage: 0.5 kV - 30 kV (in 0.1 kV Step)
OXFORD 7421 Energy Dispersive Spectrometer (EDS)
Si-Li Detector
Window: 10 mm²
ULVAC G-100DC Vacuum pump
120 ml/min
PHOENIXTEC C-6000 UPS, 6 kVA
EYELA CA-1111 Circulating chiller
Range: -20°C to 30°C
Watt: 1200 W (1030 kcal/h)
HP / HEWLETT-PACKARD XW4300 Computer
Intel Pentium 4: 3.0 GHz
RAM: 512 MB
Hard Disk Drive (HDD): 500 GB
Operating system: Windows XP
HP / HEWLETT-PACKARD DC 7100 Computer
Intel Pentium 4: 3.0 GHz
RAM: 512 MB
Hard Disk Drive (HDD): 500 GB
Operating system: Windows XP
HP / HEWLETT-PACKARD L1910 LCD Monitor, 19"
HP / HEWLETT-PACKARD LE1911 LCD Monitor, 19"
2006 vintage.
JEOL JSM 6700F Scanning Electron Microscope （SEM）は、優れたイメージング機能と分析機能を単一の機器に組み合わせることができます。大画面で高画質な画像を提供することができます。電子銃設計の最新技術であるコールドフィールドエミッションガン（FEG）を搭載しています。このFEGは、明るい高分解能電子ビームを提供し、1kVから30kVまでの電子エネルギーを利用できるため、様々な材料に適しています。また、0。5nmのスキャン解像度で高解像度のイメージングを提供しています。JEOL JSM 6700 Fは、直径8インチまでのサンプルに対応できるワークステージを備えた大型チャンバーを備えています。さらに柔軟性を高めるために、標準サンプルホルダー、ウェーハ基板、自動運転用の電動ステージなどのオプションのアクセサリを追加することができます。JSM 6700Fの高度な機能により、さまざまなアプリケーションに使用できます。高解像度でサンプル表面の細かいディテールを撮影することができます。また、エネルギー分散X線 （EDX）分光法、オーガー分光法、電子トラップ法による組成解析にも使用できます。さらに、大容量のチャンバーと自動化されたステージにより、3Dイメージングや地形解析に適しており、サンプル全体を分析して画像化することができます。JSM 6700 Fは、優れたイメージングおよび分析機能に加えて、操作中のユーザーの保護を確保するためのさまざまな安全機能を備えています。真空インターロックシステム、非常停止スイッチ、過負荷保護システムが含まれています。JEOL JSM 6700Fは、優れたイメージングおよび分析機能を提供する汎用性と強力なSEMです。明るい電子ビーム、大きなチャンバー、さまざまなアクセサリーを使用することで、幅広い用途に使用できます。また、ユーザーの保護とセキュリティのためのさまざまな安全機能を備えています。
まだレビューはありません