中古 JEOL JSM 6700F #46262 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM 6700F
ID: 46262
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM), 8" Specimen holders High end HP computer hardware Nitrogen source Either from bottled cylinder / Produced by N2 generator Accessories 2006 vintage.
JEOL JSM 6700Fは、幅広い機能を備えた汎用性の高い走査型電子顕微鏡(SEM)です。SEMは、最高の解像度のイメージングと分析機能を提供するように設計されており、その印象的な性能を達成するためにいくつかの技術の組み合わせを利用しています。JEOL JSM 6700 Fにはフィールドエミッションガン(FEG)電子ソースが搭載されており、従来の熱電子ソースよりも優れた明るさと解像度を提供します。この機能により、より幅広いサンプルで高解像度のイメージングおよび元素解析を実行できます。また、調整可能な立体ステージを装備し、柔軟性を高めています。この段階では、正確なサンプル操作とイメージング、ならびにサーベイとポイントとクリックの自動エリアスキャン機能が可能になります。この顕微鏡には、試料から反射した高エネルギー電子を検出するための電子反射画像(REPIM)検出器も装備されています。この機能により、より広範な形態のイメージングが可能になり、他の検出器と比較して高解像度の高コントラスト画像が得られます。REPIM検出器は、より適切に定義された要素プロファイルを提供することにより、サンプルの素早く簡単で正確な元素分析を可能にします。このシステムにはDigital Pulse Processor (DPP)も搭載されており、微細な電子を検出および処理し、高速で信頼性の高い正確な時間相関イメージングを提供して動的なサンプル分析を行うことができます。また、DPPは微細な電子を検出し、安定した解析を行うことができます。このユニットの他の機能には、高速ネットワーク接続を備えた内蔵コンピュータ、リアルタイムパラメータ表示、画像ズームなどがあります。これらの機能が組み合わさって、JSM 6700Fパワフルで信頼性の高いパフォーマンスを実現します。JSM 6700 Fは強力で信頼性の高い走査型電子顕微鏡で、様々なサンプルの高解像度イメージングと元素分析を可能にします。このマシンには、研究および産業用途に最適なさまざまな機能が装備されています。FEG、 REPIM、 DPPの技術とユーザーフレンドリーなコントロールを組み合わせることで、包括的なサンプル分析が可能になり、科学者やエンジニアにとって汎用性と信頼性の高いツールになります。
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