中古 JEOL JSM 6700F #293813761 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM 6700F
ID: 293813761
ヴィンテージ: 2003
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Energy‑Dispersive X‑ray spectroscopy (EDX) Electron Backscatter Diffraction (EBSD) Lithography capability Operating system: Windows 7 2003 vintage.
JEOL JSM 6700は、材料科学、物理学、化学、生物学など幅広い分野での応用を目的とした高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。高解像度の電界放射砲を搭載し、鮮明な画像と正確なデータを提供します。さらに、デュアルSE検出器とプログラム可能なAESアナライザを備えた広範囲の二次電子および後方散乱電子検出を備えています。低電圧と高電圧の両方のスキャンモードで、幅広い動作モードと優れた画質を提供します。JSM 6700は、最大試料サイズが直径150mm、傾き範囲が最大60度のステージを備えています。ビーム電圧は0。1〜30kV、ビーム電流範囲は0。5〜20nAです。最大倍率範囲は6x-1000 000xです。顕微鏡は10mmの有効な作業距離を持ち、ステージは完全に囲まれた3軸の移動システムで動作し、x、 y、 z方向のサンプルを変換します。JEOL JSM 6700は、エネルギー分散X線分光法(EDS)と電子逆散乱回折(EBSD)を活用した膨大な分析機能を提供します。これは、結晶構造を探査し、SEMモードでスキャンを実行することができます。EDS機能により、材料の元素組成を識別して分析することができ、EBSDモードでは顕微鏡をオリエンテーションマッピングに使用することができます。JSM 6700には、自動サンプル交換器、真空システム、サンプルホルダー、デフレクター/ローテーターガンなど、さまざまなアクセサリが装備されています。また、顕微鏡を制御し、JEOL Easy-SEM Image Acquisition Softwareなどの開発成果を支援するために設計された幅広いソフトウェアと互換性があります。全体として、JEOL JSM 6700は、材料、化学、物理学、生物学関連の研究に最適な、研究者の分析を支援するために設計された先進的なSEMです。その高解像度イメージングは、さまざまな機能と機能を兼ね備えており、さまざまな分野の研究者にとって非常に汎用性の高い顕微鏡ツールです。
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