中古 JEOL JSM 6700F #293806362 を販売中

JEOL JSM 6700Fは、ユーザーエクスペリエンスとパフォーマンスを向上させる高度な機能を備えたスキャン電子顕微鏡（SEM）カスタムです。従来のサーミオン砲よりも明るさが高く、50Xから5000Xまでの倍率範囲を提供します。また、内蔵の二次電子検出器でサンプルの表面詳細を確認することができます。また、超低真空（ULV）チャンバーを搭載し、無機結晶から有機物まで、幅広いサンプルの高解像度イメージングが可能です。JEOL JSM 6700 Fはまた、二次電子検出設計とビーム安定化レンズによる優れた画像安定性を提供します。これは表面解析に特に役立ち、画像モザイク時間の短縮とより正確な結果を得ることができます。システムの自動化されたeビームコヒーレンス制御とレンズ最適化により、視野全体にわたって均一なイメージングとアライメントが可能になります。JSM 6700Fには、運用管理と精度を向上させるための高度な技術も含まれています。このシステムは自動フォーカス制御を備えており、視野全体の画質を均一にします。さらに、サンプルの手動操作を排除することにより、オペレータの時間を最小限に抑える自動画像キャプチャを提供します。また、SEMは、サンプルステージの自動アライメントや静電気保護の自動検出など、さまざまな高度な試料操作オプションを備えています。JSM 6700 Fは、サンプルの高解像度画像を取得したい研究者にとって理想的なツールです。ビーム放出銃およびULVの部屋は優秀なイメージ投射の正確さおよび質を保障します。さらに、高度な検出設計と自動化されたフォーカス制御により、幅広いサンプルの高速かつ正確なイメージングが可能になります。JEOL JSM 6700Fは、革新的な技術と優れたイメージング機能により、高精度スキャン電子顕微鏡に最適です。