中古 JEOL JSM 6700F #293775754 を販売中

JEOL JSM 6700Fは、ナノメートルスケールまでのサンプルの観察を可能にする電界放射銃（FEG）を搭載した走査型電子顕微鏡（SEM）です。このSEMの電子源はFEGであり、熱電子エミッタよりも安定で高い電流と高分解能を提供し、画像解像度を向上させます。このSEMは、イメージング、要素解析、自動化された操作のために設計されています。JEOL JSM 6700 Fは30〜30kVの動作電圧範囲と信頼性の高い液体窒素冷却システムを備えています。システムは可変圧力（VP）または可変真空（VV）モードで動作します。VPモードでは1。2nmの下限検出が可能ですが、VVモードでは2。1nmまで低くすることができます。JSM 6700Fの倍率範囲は10x〜500kXです。最大視野は400mmで、最大解像度はVPモードの15kVで1。2nmです。自動運転のために、JSM 6700 Fには自動サンプルチェンジャー（ASC）が装備されています。このASCにより、サンプルセットアップの迅速な変更が可能になり、サンプルスループットと解析精度が大幅に向上します。JEOL JSM 6700Fは外部コンピュータからも制御可能で、データ取得速度をさらに向上させます。JEOL JSM 6700 Fは、高倍率イメージング、元素解析、EBSD（電子背面散乱回折）、自動試料解析など、さまざまな用途に使用できます。標準イメージング用の二次電子（SE）検出器、非導電材料の分析用の後方散乱電子（BSE）検出器、元素分析用のエネルギー分散X線 （EDX）検出器、3次元画像を提供するための広い被写界深度検出器を備えています。JSM 6700Fは、イメージング機能に加えて、X線マイクロアナリシスも可能です。EDX検出器は、ナノメートルスケールで材料の要素解析を可能にし、1％以上の精度の高い結果を提供します。JSM 6700 Fは、研究用途、研究開発、品質保証、故障解析に適しています。このSEMのサンプリング機能と組み込みの自動化により、迅速かつ簡単な分析とデータ収集が可能になります。