中古 JEOL JSM 6700F #293754691 を販売中

JEOL JSM 6700Fは、二次電子（SE）を利用して高解像度の画像を生成する走査型電子顕微鏡（SEM）です。SEMには、ETL可変圧力SEM （VP-SEM）機能が搭載されているため、電子放出圧力が低下し、試験片の被写界深度と分解能が向上します。0。1Pa〜10Paの可変圧力を用いることで、様々な環境条件下で試験片を研究することができます。JEOL JSM 6700 Fは0。1〜30kVの加速電圧で、最大コントラストイメージングのダイナミックレンジを実現します。このSEMは、温度範囲が0〜135°C、真空が10〜3 Paまでの高性能な環境チャンバーを提供します。また、高感度背散電子検出器（BSE）とEDXシステムを備えており、試料の元素組成分析を高精度に行うことができます。JSM 6700Fは、電子トモグラフィーを通じて3D画像を作成するために使用されるデジタルデータを収集することができます。このSEMは、二次電子（SE）と前後スキャン機能も生成します。SEは高コントラストの画像を描画し、前後のスキャン機能により試料を繰り返しスキャンすることができます。この高性能な電界放出源は、試料上の小さな特徴や地形に高い感度で優れた高分解能イメージングをもたらします。JSM 6700 Fには、ビーズ表面全体を同時に見ることができる広い作業距離オプションが装備されています。さらに、このSEMは、単一の焦点面で複数の画像を生成する独自の機能を備えており、解析とイメージングを組み合わせています。これらの機能は、高感度検出器とともに、JEOL JSM 6700F、高解像度イメージング、超解像画像、環境スキャン、EDXなど、幅広い用途に最適です。要するに、JEOL JSM 6700 Fは、産業、生物医学、学術研究のさまざまな目的のための優れたSEM選択肢です。