中古 JEOL JSM 6700F #293672256 を販売中

JEOL JSM 6700F Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノスケールで材料の構造と組成を特徴付けるための強力で正確なツールをユーザーに提供するために設計された最先端のデバイスです。JEOL JSM 6700 Fは、最高品質のイメージングと分析を保証するために、さまざまな機能とコンポーネントを組み込んでいます。JSM 6700F装置は、さまざまなデジタルオートメーション機能を備えた完全自動システムを中心に構築されています。理性的なSEM機能は最も要求の厳しい適用の速く、正確な操作を可能にします。この顕微鏡には、ハイスループットスキャンコントロールユニットと統合された熱流量制御マシン、および高度なオンコラムオートフォーカス機構が備わっています。これらの機能を組み合わせて、自動化された正確なイメージングおよび解析機能を作成します。この顕微鏡は、高解像度の画像を生成することができるフィールド放射銃（FEG）を備えています。この銃は低い拡散角度、長い焦点深度、低い発散、広い倍率を持っています。JSM 6700 Fには、可変圧力段（VPS）も付属しています。この段階は、大気圧の異なる範囲に調整することができ、それは詳細の異なるレベルで標本を分析することが可能になります。この顕微鏡には、高分解能の二次電子検出器と明るい電界検出器が装備されています。これらの検出器は、高コントラスト領域の特定、表面フィーチャーまたは亀裂の検出、プロットラインスキャンなど、さまざまなイメージング、分析、測定作業に使用できます。JEOL JSM 6700Fには、データ分析および表現のためのさまざまなソフトウェアツールが付属しています。これらのツールを使用すると、さまざまな標本タイプのデータを収集、プロット、分析できます。これには、画像の変換、画像の融合、画像から立体表現を作成する機能が含まれます。さらに、JEOL JSM 6700 Fは、顕微鏡の機能をさらに高めることができるオプションの範囲が含まれています。これらには、フィールド放射検出器、酸素セル、およびコラム・ヒーター、ならびにサンプル調製アクセサリーの範囲が含まれます。これらのエクストラは、顕微鏡のイメージングおよび分析操作の精度と解像度を向上させるのに役立ちます。全体として、JSM 6700F Scanning Electron Microscopeは、ナノスケールの研究と分析のための強力で汎用性の高いツールです。これは、優れたレベルのイメージングと分析性能を達成したい人にとって理想的な選択肢です。