中古 JEOL JSM 6700F #293655231 を販売中

JEOL JSM 6700F Scanning Electron Microscope （SEM）は、多種多様なサンプルの観察・分析を行う高性能な装置です。微細なプローブサイズと長時間の作業距離により、優れた画質と解像度を提供します。この6700Fは、コールドフィールドエミッションガン（CFE gun）を備えており、優れた被写界深度と最大300,000xの倍率で優れた解像度で高品質の画像を生成します。CFEガンは低電子ビーム電流を生成し、低電圧での動作を可能にし、最大100mmに達することができる装置の作動距離を増加させます。また、6700Fは25mm×25mmの広いソリッドステートイメージング領域を持ち、バックスキャッター電子検出器（BED）やインレンズ（IL）イメージングなど、さまざまなコントラストを生成することができます。さらに、6700Fにはオプションの第二段検出器を装備することができ、反射モードと送信モードの両方で二次電子イメージングを提供することができます。59mmのサンプル部屋は直径55mmまでのサイズのサンプルを握ることができます。サンプルチャンバーには、ロードロック、クライオ冷却ステージ、クールステージなどのオプションのアクセサリを備えた自動制御およびサンプル交換も備えています。さらに、6700Fは、キット用に特別に設計されたオプションのEDSシステムで優れた分析性能を備えています。EDSシステムは、材料の元素分析を提供することができ、炭素、酸素、硫黄などの軽い元素を測定するために使用されます。JEOL 6700Fは、Scanning Probe Image and Analysis （SPIA）およびAdvanced Scanning Auger Microscopy （SAM）機能を搭載した自動SEMです。SPIAは、ラインスキャンとより大きな領域のイメージングモードを組み合わせることでナノスケール特性の3Dイメージングを提供し、SAMは0。1nmの解像度で微量元素の解析を可能にします。6700FはX線分光法（XPS）顕微鏡でもあり、表面からの高分解能X線スペクトルの収集が可能です。分光ファイルを使用して、サンプル表面の元素組成と結合状態を分析することができます。全体として、JEOL JSM 6700 Fは、さまざまなサンプルのイメージングと分析に使用できる汎用性の高い機器です。コールドフィールドエミッションガン、3Dイメージング機能、自動サンプルチャンバー制御、XPS機能により、幅広い分野の研究者に最適です。