中古 JEOL JSM 6700F #293636522 を販売中
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JEOL JSM 6700Fは、様々なサンプルの高品質なイメージングと解析を提供するために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。このSEMは優れた解像度と高い被写界深度を提供し、最大60,000xの拡大と少なくとも20µmの印象的な被写界深度を可能にします。JEOL JSM 6700 Fは、1〜7mmから調整できる電圧範囲の200-30kVとスポットサイズを備えています。さらに、このSEMモデルは、アクティブビーム実行時間の高いデューティサイクルを備えており、長期間にわたる大型サンプルの連続撮影が可能です。JSM 6700Fは、高度なバックスカッタースキャンモードを備えており、イメージングプロセスのアーティファクトを削減できます。このメカニズムは、スキャナのラスタリング処理と同じ原理で動作し、水平線ごとに複数のポイントソースを可能にし、ラスタリング技術よりも優れた解像度を実現します。このSEMモデルにはデジタル信号処理が組み込まれており、サンプル画像のアーティファクトを低減しながらノイズ感度を向上させることができます。JSM 6700 FをEDS Microchamberにアップグレードすることもでき、簡単で信頼性の高い自動スペクトラム収集および解析を提供します。JEOL JSM 6700Fのユーザーインターフェイスは、直感的で使いやすいように設計されており、ユーザーは画像を素早く設定して取得することができます。このSEMモデルには真空チャンバーも装備されており、画質や解像度を損なうことなく、空気に敏感なサンプルの分析が可能です。全体的に、JEOL JSM 6700 Fは、優れた解像度と被写界深度を提供し、それが高品質のイメージングと分析を実行することを可能にする機能の範囲を提供します。このSEMモデルは様々な条件で動作するため、生物学、材料科学、工学の分野の研究者に最適です。
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