中古 JEOL JSM 6700F #293608930 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM 6700F
ID: 293608930
ヴィンテージ: 2011
Scanning Electron Microscope (SEM) 2011 vintage.
JEOL JSM 6700Fは、単色電子光学系のおかげで、驚異的な画像処理能力を提供する電界放射走査型電子顕微鏡(FESEM)です。これは、視野の壮大な深さで高解像度の画像を取得することができます。JEOL JSM 6700 Fは、高品質な光学系と高度な信号処理により、加速電圧はわずか1。2kVであるにもかかわらず、動作モードで最大50nmの優れた空間分解能を実現します。JSM 6700Fは、背面散乱電子(BSE)を使用して、顕著なレベルの詳細なサンプルの画像をキャプチャします。サンプルは、ドライサンプルや液体細胞など、さまざまな条件や調製技術で観察することができます。JSM 6700 Fは5桁以上のダイナミックレンジを備えており、サンプルの異なるポイント間の微細なコントラストさえも検出することができます。これにより、観察における高いレベルの詳細が可能になり、形態学的および/または組成的変動の証拠が明らかになります。JEOL JSM 6700Fには高度な4軸ゴニオメーターが搭載されており、高精度なサンプル操作が可能です。これにより、サンプル、特に非常に小さなサイズのサンプルを詳細に分析することができます。サンプルはその場で分析することもできます。JEOL JSM 6700 Fは、その場での観測専用の真空ステージなどの特徴のユニークな組み合わせを持っており、異なる制御温度や圧力での分析を可能にします。この装置は、その場でのトライボロジー、電気化学実験、温度や圧力の変化などの実験に役立ちます。JSM 6700Fは、低加速電圧と可変圧力環境のおかげで、有機材料などの電子照射に敏感なサンプルの研究に特に適しています。JSM 6700 Fには、グラフィカルユーザーインターフェイスを備えたディスプレイ画面で観察された画像を表示するブラウザモードが装備されています。このディスプレイは、標本のより良い表現を可能にする標準的な線形ビューの代わりに、観察の角度ビューを表示します。JEOL JSM 6700Fは高度に自動化された操作性を誇り、初心者でも使いやすくなっています。画像取得と分析の両方のプロセスを自動化して時間を節約でき、ユーザーは画像処理全体を再実行することなくシーケンスとパラメータを編集できます。結論として、JEOL JSM 6700 Fは、高度で洗練された走査型電子顕微鏡であり、これまでにないレベルのディテールで顕微鏡イメージング機能を提供します。
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