中古 JEOL JSM 6700F #293603871 を販売中
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ID: 293603871
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
PC
Control panel
PVP Pump
Pumping tube
Interface block
Joystick
OXFORD EDS Detector
Cables
Controller
No Hard Disk Drive (HDD).
JEOL JSM 6700Fは、様々な材料や標本の高解像度、トップダウン画像を提供する走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、マイクロエレクトロニクス、材料科学、応用研究、生物イメージングなどの用途に最適です。JEOL JSM 6700 Fは、広範囲の運動エネルギーを持つ電子を生成するコールドフィールド放出電子源を使用しています。これにより、ユーザーは画像条件とコントラストを最適化するための特定のエネルギーを選択することができます。また、高分解能の電子光学カラムを使用しており、被写界調整器、色収差補正器、スティグメータ、コンデンサーレンズの深度を備えています。これにより、50ナノメートルから数マイクロメートルまでのサンプルのイメージングが可能になります。JSM 6700Fには、従来の真空、高真空、または低真空条件で動作可能なサンプルチャンバーがあります。このチャンバーには、電子ビームスキャンユニット（EBSS）が装備されており、電子光学カラム内のサンプル位置を制御することにより、高精度で高速なイメージングが可能です。これにより、サンプルを手動で配置する必要がなくなり、高品質な画像を素早く取得できます。JSM 6700 Fは、トップダウンイメージングに加えて、エネルギー分散分光法（EDS）、電子後方散乱回折（EBSD）、カソドルミネッセンス（CL）、二次電子イメージングなど、さまざまな分析機能を提供します。これらのツールは、さまざまな材料や組み込み機能をイメージングするための強化されたコントラストと解像度を提供することができます。JEOL JSM 6700Fは、優れた画質を提供し、マイクロエレクトロニクスから生体試料まで、さまざまな材料のイメージングに適しています。その高度な機能と機能は、最高の解像度と精度を要求するイメージングアプリケーションに最適です。機械は作動し易く、また操作の間にユーザーの安全を保障する安全機能が装備されています。
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