中古 JEOL JSM 6700F #293600930 を販売中

JEOL JSM 6700Fは、試料表面の詳細な画像を得るために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。驚異的な解像力、高い精度、そして幅広い分析技術を実行する能力を備えています。この装置は、内部の大気を低真空に保つために動作する可変圧力チャンガーを備えており、サンプルの導電特性または特徴に依存しないSEイメージングおよびEDX解析を実行することができます。JEOL JSM 6700 Fは、入射電子ビームによって生成される二次電子や逆散乱電子を試料に利用することで、非導電性試料の高分解能イメージングと定量的な微細解析を可能にします。JSM 6700Fは、最適なイメージング条件を提供するためにサンプルの焦点を調整するオートフォーカス機能を備えています。その銃と対物レンズの設計は、特にエネルギー分散X線装置の広いエネルギー範囲と組み合わせると、優れた分析性能を提供します。JSM 6700 Fは、エネルギー分散型X線（EDX）システムを利用することにより、元素感度を数百万分の1 （p。p。m。）まで提供することができます。SEMは、モーションサンプルイメージングのスロースキャンと高速画像記録を使用した最新のデジタルカメラを搭載しており、優れた解像度の画像を提供し、サンプルの微細構造の鮮明でシャープな詳細を表示することができます。記録時間の長さを調整することができ、動的な特徴を持つサンプルや定常状態に達するまでに長い時間を要するサンプルのイメージングをさらに可能にします。JEOL JSM 6700Fのユーザーフレンドリーなソフトウェアは、楽器の便利な操作を容易にします。スキャンされたサンプルの立体形状を再構築するための図面ユニット、画像管理用のライブラリマシン、定量分析用の多要素分析アプリケーションソフトウェアが含まれています。JEOL JSM 6700 Fは、サンプル材料を研究・分析するエンジニアや科学者にとって貴重なツールです。サンプルの微細構造の詳細かつ正確な画像を提供することで、サンプル材料の正確な観察と洞察を得ることができ、表面特性、材料科学、ナノテクノロジー応用の研究において貴重なツールとなります。