中古 JEOL JSM 6610LV #9410899 を販売中

JEOL JSM 6610LVは、イメージングと解析の高度な機能を備えた走査型電子顕微鏡（SEM）です。6610LVは、解像度1。3ナノメートルまでの高解像度画像を生成できる高性能SEMです。大型チャンバーを装備し、最大直径200mmまでの最大サンプルサイズの大型・太いサンプルの分析に適しています。6610LVは、高精度スキャン、高度なオートメーション、使いやすいオペレーティングシステム、高い柔軟性など、幅広い機能を提供しています。SEMの反転設計により、他のSEMと比較して作業面積の拡大、サンプルサイズの拡大、真空レベルの向上が可能です。この6610LVはまた、二次電子（SE-1）、逆散乱電子（BSE）、エネルギー分散分光（EDS）などの幅広い検出器をサポートしています。高性能スキャン電子顕微鏡JEOL JSM 6610 LVは、高解像度イメージングと解析が可能です。優れた解析・観測機能をサポートし、高解像度イメージングと解析機能の両方を必要とするさまざまなユーザーに適しています。広いワーキングエリアと大きなチャンバーサイズを備えたJSM 6610LVは、幅広いサンプルサイズと用途に対応しています。さらに、SEMは高度に自動化され、操作が簡単です。そのため、6610LVはイメージングと分析材料の両方の研究を行うための理想的なツールです。