中古 JEOL JSM 6610LA #9410816 を販売中

JEOL JSM 6610LAは、超高倍率のサンプル表面の高解像度画像を提供するために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。細胞分解能でサンプル元素を解析できるエネルギー分散X線分析システム（EDX）を搭載しています。このシステムは、材料の構造、試料の表面の化学、および試料の組成の親密な性質を調べるのに役立ちます。顕微鏡の倍率は最大50,000倍、最小解像度は0。8nmです。タングステンフィラメント電子源を使用し、広いエネルギー範囲で電子を提供します。コンデンサーレンズは、可変強度の乱視を使用して、高倍率で試験片に歪みを引き起こすことなく、ビームをよりよく集中させます。また、開口角度ストップにより、電子ビームのサイズを制御するための可変極の高さを提供します。試料ステージはX-Y-Z駆動機構を使用して移動することができ、試料を電子ビームに対してプッシュおよびプルして移動させることができます。ステージは最大390mm × 305mmのサンプルに対応でき、± 50°まで傾斜可能です。自動スキャンを可能にするオートステージも装備されています。JSM 6610LAには、サンプル画像を歪めることができる静電力の影響を低減するための充電補正器があります。これは、プラスチックなどの非導電試料をイメージングする場合に特に役立ちます。SEMソフトウェアは、デジタル画像とデータを高精度に提供するように設計されています。それは将来の参照のための操作変数そして結果を貯えることができます。また、データ分析が可能であり、時間の経過とともにサンプル要素の変化を検出するために使用することができます。JEOL JSM 6610LAは、研究分野や産業分野におけるイメージング性能をユーザーに提供します。高解像度イメージング機能、柔軟なステージドライブ機構、強力なデータ解析ソフトウェアにより、貴重なイメージングツールとなります。