中古 JEOL JSM 6600FXV #9098215 を販売中
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ID: 9098215
Scanning Electron Microscope (SEM)
Part number: D39562000
Imaging and control system
Manuals included
Power: 200 VAC, 30 A, Single phase, 6 kVA.
JEOL JSM 6600FXVは、材料の高解像度イメージングおよび分析用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。電子ビーム顕微鏡内の性能に最適化された最先端のツールです。この顕微鏡は、従来の磁気対物レンズ装置を内蔵した電界放射電子銃を使用して動作します。さらに、JSM 6600FXVは、軸上エネルギー分散X線分光法（EDX）用のソリッドステートEDX検出システムと、低騒音画像をキャプチャする高感度デジタル信号プロセッサを備えています。SEMは、0。5〜30kVの制御可能な加速電圧範囲と高感度の高解像度ディスプレイユニットを備えた超高真空環境で構成されています。X、 Y、 Zのサンプルドライブユニットを備えたサンプルチャンバーと、試験片の位置決めおよび傾き調整機能用のサンプルホルダーを備えています。サンプルホルダーは、最大220 x 200mmの寸法のサンプルに対応できます。この顕微鏡は、高度な画像処理装置を備えており、データの収集と処理に柔軟性を提供します。JEOL JSM 6600FXVは、電子ビーム誘導電流（EBIC）ツール、元素解析用EDX機能、微小スケールで材料の特性評価に使用できる化学マップ機能など、豊富な解析機能を備えています。EBICアセットを使用すると、研究者は試料内の局所的な電気的タイプと電流を検出して測定することができます。EDXは、試料表面の高感度化学分析を可能にし、ケミカルマップ機能により、試料内部の元素の空間分布を解析することができます。高真空から高圧ガスまでの様々な条件でサンプルを画像化することができ、液体セルモードをスキャンすることで、JSM 6600FXV汎用性の高い機器となります。さらに、JEOL JSM 6600FXVの高度な電子銃は、分析条件での動作を可能にします。つまり、この顕微鏡で生成された結果と画像は最高品質です。JSM 6600FXVは、材料の高解像度イメージングと分析に最適化された高度な走査型電子顕微鏡です。電界放出電子銃、EDX検出器モデル、画像処理装置、EBICシステムなど、さまざまな機能を備えており、材料特性評価のための貴重なツールとなっています。
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